一文讓你快速了解X射線探傷機(jī)工作原理
閱讀:2892 發(fā)布時(shí)間:2020-9-3
X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料,并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同,從而使膠片感光不一樣,于是在底片上形成黑度不同的影像,據(jù)此來(lái)判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法。
X射線探傷機(jī)在無(wú)損檢驗(yàn)技術(shù)中得到廣泛應(yīng)用的主要原因是:
X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料,并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同,從而使膠片感光不一樣,于是在底片上形成黑度不同的影像,據(jù)此來(lái)判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法。
X射線探傷機(jī)原理
X射線探傷機(jī)是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性,發(fā)現(xiàn)缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。
X射線的波長(zhǎng)很短一般為0.001~0.1nm。
X射線以光速直線傳播,不受電場(chǎng)和磁場(chǎng)的影響,可穿透物質(zhì),在穿透過(guò)程中有衰減,能使膠片感光。
當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí),由于射線與物質(zhì)的相互作用,將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過(guò)程,其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量,強(qiáng)度相應(yīng)減弱,這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。
X射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同,而引起射線透過(guò)工件后強(qiáng)度差異,使感光材料(膠片)上獲得缺陷投影所產(chǎn)生的潛影,經(jīng)過(guò)暗室處理后獲得缺陷影像,再對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定工件內(nèi)部缺陷的性質(zhì)和底片級(jí)別。