半導體分立器件測試系統

功能及主要參數：
　　KEW3500-2KV-400A柜機主要滿足中小功率半導體分立器件全靜態參數的測試。此設備控制極電壓為80V，可滿足控制極電壓等級較高的MOS管的測試需求，同時也具備400A以內各種分立器件靜態參數的測試。　　400A柜機的設計，從空間節省及設備挪運方面更為方便快捷。 
　　系統主要技術參數：
　　主極電壓：2000V
　　主極電流：400A
　　控制極電壓：80V
　　控制極電流：10A  
　　電壓分辨率：1mV
　　電流分辨率：100pA
　　測試速度：5ms/參數
產品優勢
　　此設備解決控制極電壓為80V，可滿足控制極電壓等級較高的MOS管的測試需求，同時也具備400A以內各種分立器件靜態參數的測試。

可測試器件種類：

       該系統是專為測試大功率半導體分立器件而設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確的測試以下19個類型的半導體器件組成的組合器件、器件陣列：

       二極管、穩壓（齊納）二極管、晶體管、單向可控硅（普通晶閘管）、雙向可控硅（雙向晶閘管）、金屬-氧化物-半導體場效應管、結型場效應管、三端穩壓器、絕緣柵雙極大功率晶體管、光電耦合器、達林頓陣列器件、光電開關管、繼電器、金屬氧化物壓變電阻、壓變電阻、智能功率模塊以及集成功率模塊。

半導體分立器件測試系統

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