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| 供貨周期 | 兩周 | 貨號 | 460-101 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,環保,化工,生物產業 |
Omniprobe AutoProbe™ 100、200、250和300等FIB和SEM/FIB系統上使用的全套附件、耗材和升降格柵，如FEI DualBeam™、ZEISS CrossBeam®/NVision、TESCAN FIB-SEM和JEOL JIB-4500。
產品簡介
詳細介紹
Omniprobe AutoProbe尖頭配件
Omniprobe AutoProbe™ 100、200、250和300等FIB和SEM/FIB系統上使用的全套附件、耗材和升降格柵，如FEI DualBeam™、ZEISS CrossBeam®/NVision、TESCAN FIB-SEM和JEOL JIB-4500。
有多種Omniprobe探針頭可供選擇，適用于不同年代的Omniprobe AutoProbe™系統。
Omniprobe AutoProbe尖頭配件
用于AutoProbe™ 100和200的Ni柄尖頭
用于AutoProbe™ 100和200系統的定制測頭設計。鎳管柄直徑為0.508mm (0.020")，鎢尖直徑為76µm (0.003")。尖頭半徑為0.5µm，錐角為13°，使用壽命長。鎳柄長約33.25mm (1.31")。鎢尖~35.5mm (1.40")，鎢須從距尖部2.3mm (0.090")開始。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-101 | Tip with Ni shank for the Omniprobe AutoProbe™ 100 & 200 | pkg/10 |
用于AutoProbe™ 100和200的標準W型探頭尖頭
用于AutoProbe™ 100和200系統的定制測頭。全鎢合金設計，針尖半徑為0.5µm，錐度為10-13°，使用壽命長。刀柄直徑為0.508毫米（0.020"）。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-102 | Standard W Tip for the Omniprobe AutoProbe™ 100 & 200 | pkg/10 |
用于AutoProbe™ 100和200的窄W探針尖頭
用于AutoProbe™ 100和200系統的定制窄型測頭。全鎢合金設計，半徑小于0.5µm，錐度為8-10°。刀柄直徑為0.508毫米（0.020"）。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-106 | Narrow W Tip for the Omniprobe AutoProbe™ 100 & 200 | pkg/10 |
適用于AutoProbe™ 300和400的原地更換測頭的測頭提示
為AutoProbe™ 300系統定制的探針尖，用于原位探針尖交換系統。帶不銹鋼柄的鎢尖，尖頭半徑為0.5µm，錐角為8-10°。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-103 | in situ probe tips for the Omniprobe AutoProbe™ 300 & 400 | pkg/20 |
用于AutoProbe™ 300和400的帶鍵探頭提示
定制的鍵式探針尖，平放在環上，可在Omniprobe AutoProbe™ 300/400探針尖支架上安全定位。鎢合金探針頭，帶不銹鋼柄，平放在環上，探針頭半徑為0.5µm，錐度為8-10°。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-107 | Keyed Probe tips for the Omniprobe AutoProbe™ 300 & 400 | pkg/20 |
用于FEI Helios前端口的AutoProbe™ 300和400探頭的測頭
為Omniprobe AutoProbe™ 300/400系統定制的探針頭，減少了針圈直徑，以適應FEI Helios前端口系統的50仰角。帶有不銹鋼柄的鎢合金探針頭，環徑較小，探針頭半徑為0.5µm，錐角為8-10°。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-108 | Omniprobe AutoProbe™ 300 & 400 Probe Tips for the FEI Helios Front Port | pkg/20 |
用于FEI Helios前端口的Keyed AutoProbe™ 300和400探頭的測頭
為Omniprobe AutoProbe™ 300/400系統定制的鍵式探針頭，在縮小的軸頸直徑上有一個平坦的探針頭，以適應FEI Helios前端口系統上的50仰角。帶有不銹鋼柄的鎢合金探針頭，平放在較小的環上，探針頭半徑為0.5µm，錐度為8-10°。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-109 | Keyed Omniprobe AutoProbe™ 300 & 400 Probe Tips for the FEI Helios Front Port | pkg/20 |
AutoProbe™ 250 和 200配備短切箱的提示
用于AutoProbe™ 250和200系統的定制測頭。可與短刀兼容。全鎢合金設計，柄部直徑為0.508mm（0.020"）。探頭半徑優于0.5µm，錐度為6°的錐角，精度更高。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-105 | W tips for the Omniprobe AutoProbe™ 250 & 200 with Short-Cut | pkg/10 |
AutoProbe™ AP250 探頭支架
定制的測頭支架，用于Autoprobe™ AP250測頭 - #460-105。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-104 | Omniprobe Autoprobe™ AP250 Probe Tip Holder | each |
GSB-100 儲存箱，適用于 FIB 抬出格柵的儲存箱
GSB-100儲存盒，可容納100個FIB柵格或標準3mm TEM柵格平放。
托盤內無粘合劑（ABS材質）。空腔尺寸為3.34 x 3.34 x 1.5mm (0.13" x 0.13" x 0.13" x 0.06")。配有透明聚苯乙烯蓋和透明聚丙烯夾子。可疊放。
總尺寸為55 x 51 x 10.7mm (2.16" x 2" x 0.42")。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-200B | GSB-100 Storage Box for 100 FIB Lift Out Grids | 1個 |
防靜電GSB-100儲存箱，適用于FIB吊出格柵的防靜電儲存箱
內外尺寸與標準GSB-100儲存箱相同，但採用黑色導電聚丙烯製成的防靜電盤。配有防靜電蓋和聚丙烯夾子。可疊放。
整體尺寸為55 x 51 x 10.7mm (2.16" x 2" x 2" x 0.42")
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PELCO® FIB柵格箱，適用于移出式柵格或半柵格柵
四位格柵盒，帶蓋子，可容納FIB網格或半網格。PELCO® FIB格柵盒的空腔深度只有1.7mm，因此可以防止格柵在菱形空腔中旋轉。使用鋒利的鑷子可以相對容易地裝載/卸載FIB格柵。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
160-54 | 4 Position PELCO® FIB Grid Box with Lid | 1個 |
自動探針™配件
有許多附件可用于協助FIB銑削的TEM薄片取出程序。
另類的、具有成本效益的選擇。PELCO® FIB樣品準備支架
低型雙TEM網格支架
低型雙TEM柵格支架可容納2個可升降的柵格，并有一個彈簧式夾爪，便于卸載。該支架具有短的標準銷軸式底座：ø3.2×4mm長（1/8"×0.15"），可容納全晶圓系統中使用的較薄的平臺板。采用鋁制和全無磁性材料。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-316 | Low Profile Double TEM Grid Holder, Al | 1個 |
低型雙TEM網格和樣品架
適用于FIB和SEM/FIB（DualBeam™和CrossBeam®）系統的TEM柵格和樣品支架，帶2個TEM升降柵格和2個樣品支架。該支架具有標準的銷軸式底座：ø3.2 x 8.1mm長（1/8 "x0.32"），與大多數標準銷軸支架兼容。采用鋁制卡爪和非磁性材料。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-318 | Low Profile Double TEM Grid and Sample Holder, Al | 1個 |
低矮型單樣品和格子架
適用于FIB和SEM/FIB系統的單樣品和TEM網格支架，帶兩個TEM升降網格和一個樣品支架。該支架有一個標準的銷軸式底座。3.2 x 8.1mm (1/8" x 0.32")，可與大多數標準的銷釘支架兼容。由鋁和非磁性材料制成。
型號 | 描述 | 包裝規格 |
460-319 | Low Profile Double TEM Grid and Single Sample Holder, Al | 1個 |