Seinan industries SE-HAEMD霍爾效應測試儀是用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性*的工具。

Seinan industries SE-HAEMD霍爾效應測試儀概要
半導體樣品的基本物理性能評價系統(tǒng)
設定好樣品后，通過連接的PC機的操作執(zhí)行控制，顯示電阻率、攜帶型載流子濃度和遷移率的計算結果。
彈簧板探頭保證了電接觸，所以不需要電線本田
我們將根據(jù)您的研究和使用條件進行設計和生產(chǎn)

Seinan industries SE-HAEMD霍爾效應測試儀設備配置和規(guī)格 
　計量系統(tǒng)的主要單位
　　直流電流源和直流電壓表是獨立的。
　　穩(wěn)定而良好的測量
　　用范德寶法測量
　　通過磁場的自動反轉機構進行自動測量。
　樣品架
　　通過探針類型輕松交換樣品
　磁鐵
　　低漏磁的永磁體
　　磁場強度可以通過選項改變。
　　磁場強度可以通過選項改變。
　計量
　　設定參數(shù)后，全自動測量，包括磁場旋轉。
　　測量和計算
　
　直流電流源
　　最大輸出：±200mA
　　低分辨率：100nA
　　輸出噪聲：30nAp-p以下(3mA, 1kΩ)
　　幾毫安范圍，DC-100Hz低頻噪聲。
　直流電壓表
　　最大允許輸入電壓：1kV
　　低分辨率：100nV
　　100mV范圍
　　輸入阻抗：1GΩ
　　100mA范圍
　　顯示位數(shù)：6位
　樣品形狀：10毫米見方，厚度2毫米以下。
　　探頭位置可調(diào)整為7～18mm。
　磁鐵
　　磁場強度：5.5kOe。
　測量環(huán)境
　　測量溫度：室溫
　尺寸
　　H760㎜×W660㎜×D532㎜
　電腦操作環(huán)境
　　兼容Windows7、XP、Vista