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X射線無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可以提供BGA焊點(diǎn)的初步缺陷信息
實(shí)時(shí)X射線檢測(cè)是一種有價(jià)值的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，可以提供有關(guān)BGA焊點(diǎn)的重要信息。對(duì)于BGA焊點(diǎn)質(zhì)量檢查，通常首先進(jìn)行非破壞性技術(shù)檢測(cè)，即無(wú)損檢測(cè)。進(jìn)一步的檢查是破壞性檢查技術(shù)，包括染料分析，金相檢查和掃描電鏡（SEM）及能量色散譜（EDS）分析，這些通常用于界面分析，可以識(shí)別大多數(shù)BGA失效的焊點(diǎn)。
X射線無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可以提供BGA焊點(diǎn)的初步缺陷信息，有助于引導(dǎo)后續(xù)的破壞性檢測(cè)分析。
X射線檢查中觀察到的最常見(jiàn)缺陷之一是焊點(diǎn)中的空洞。根據(jù)IPC-7095C，空隙率大于35％和直徑大于50％是工藝控制的極限值。一般而言，如果總空隙面積超過(guò)焊球面積的25％，則認(rèn)為該產(chǎn)品不合格，需要返修。盡管小的空洞可以通過(guò)檢查并且不需要返修，但它們?nèi)匀皇菓?yīng)注意的工藝指標(biāo)。
焊料橋接是可以通過(guò)X射線檢查的另一個(gè)缺陷。當(dāng)通過(guò)焊料連接兩個(gè)焊點(diǎn)時(shí)，焊料與大多數(shù)周圍材料之間存在明顯的密度差，因此很容易識(shí)別。
焊球的丟失在X射線檢測(cè)圖像中也非常明顯。由于BGA焊球是以陣列方式整齊排列在器件底部，因此很容易發(fā)現(xiàn)缺少焊球的相應(yīng)位置。
X射線檢查也很容易發(fā)現(xiàn)錫球移位的問(wèn)題。關(guān)鍵是檢測(cè)焊球位移的嚴(yán)重程度。通常根據(jù)具體要求判斷焊點(diǎn)是否合格一般的標(biāo)準(zhǔn)公式為：從焊球中心到焊盤(pán)中心的距離/焊盤(pán)直徑
其他變形的焊點(diǎn)可能是嚴(yán)重的缺陷，例如枕頭效應(yīng)，枕頭效應(yīng)很難通過(guò)二維X射線檢測(cè)來(lái)觀測(cè)，需要借助3D斷層掃描來(lái)檢測(cè)。