產(chǎn)品簡(jiǎn)介
先進(jìn)材料的研究和開(kāi)發(fā)
靈敏度: 對(duì)外延層監(jiān)控和不可見(jiàn)缺陷檢測(cè),
具有可視化測(cè)試的高分辨率
測(cè)試速度: < 5 minutes,6英寸硅片, 1mm分辨率
壽命測(cè)試范圍: 20ns到幾ms
玷污測(cè)試: 產(chǎn)生于坩堝和生產(chǎn)設(shè)備中的金屬沾污(Fe)
測(cè)試能力: 從切割的晶元片到所有工藝中的樣品
靈活性: 允許外部激發(fā)光與測(cè)試模塊進(jìn)行耦合
可靠性: 模塊化緊湊型臺(tái)式檢測(cè)設(shè)備,使用時(shí)間 > 99