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產品簡介
詳細介紹
博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 B系列產品概述：
博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 B系列是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式，配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。樣品倉采用開槽配置，但沒有可編程的XY樣品臺。
B系列標準配置包括一個固定準直器，一個固定焦距的相機，固態PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣，該型號也可升級為包括多個準直器，可變焦點相機和SDD探測器。
博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 B系列
可滿足以下類型用戶的需求：
- 樣品測試量相對較小
- 樣品僅需測量一個位置
- 大型線路板鍍層的抽檢
- 預算有限但希望日后儀器性能能有所提升
- 符合IPC-4552A
博曼（Bowman）XRF鍍層測厚儀 B系列產品參數：
類別 | 參數 |
元素測量范圍： X射線管： 探測器： 分析層數及元素數： 濾波器/準直器： 焦距： 數字脈沖器： 計算機：
相機： 電源： 重量： 馬達控制/可編程XY平臺： 延伸可編程XY平臺： 樣品倉尺寸： 外形尺寸： | 13號鋁元素到92號鈾元素 50 W（50kV和1mA）微聚焦鎢鈀射線管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器 5層，每層可分析10種元素，成分分析至多可分析25種元素 4位置一次過濾器/單規格準直器 激光固定焦距（可選多焦點） 4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz 34kg 不可用 不可用 高度：140mm（5.5"），寬度：310mm（12"），深度：335mm（13"） 高度：450mm（18"），寬度：450mm（18"），深度：600mm（24"） |
關于美國博曼：
美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應商，擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和*的軟件系統，可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統也可以測量高熵合金（HEAs）。