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BOS-NGH高配納米激光粒徑分析儀
主要性能特點：
先進的測試原理：高配納米激光粒徑分析儀采用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度*的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；是納米激顆粒粒度測定的儀器。
高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具有*的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；
*的運算功能：使用PCS技術測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件采用集成電路ASIC研制的高速光子相關器，具有識別6ns的*分辨能力和*的信號處理速度，可快速實時的采集光子數并計算相關運算，我測試尊確定奠定基礎。
雙波長激光器：采用雙波長（λ=454nm、λ=532nm）激光器搭建而成的光路系統，相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的屏蔽能力，從而保證了測試的穩定性；某些樣品具有吸光屬性，傳統單一波長激光器對這些樣品無法檢測，我司BOS-NGH搭載的雙波長激光器能有效檢測此類樣品。
高精度溫控系統：樣品池溫控系統和激光器溫控系統精度高達±0.1℃，使被測樣品和激光器光源在整個測試過程中都處于恒溫狀態，避免溫度變化對不測試結果的影響，確保測試的準確性和重復性；
*功能的分析軟件：分析軟件中反演算法采用標準推薦的累計量法以及目前比較通用的非負小二乘法（NNLS）和Contin等多種算法，其測試結果同類產品具有很好的一致性；
測試穩定：高性能的硬件和標準化的反演算法的結合，造就了BOS-NGH測試結果的重復，其測試準確度和重復性等指標均高于標準要求。
全新散熱系統：新NG進行了雙氣流設計，熱氣流直接排出儀器外殼，倍增管、激光器、相關器等重要部件不再受熱氣流的影響，測量數據更加準確、更穩定，同時大大延長了這些重要部件的使用壽命。
自動感應滑門：新NG加裝了比色皿門自動開啟、閉合功能，當手靠近儀器時滑門會自動打開方便測試人員拿取比色皿，當手遠離儀器時滑門會自動閉合。
此款納米粒度儀已經達到國外納米粒度儀的測試水平！
BOS-NGH光相關納米粒度儀技術參數及詳細配置
規格型號 | BOS-NGH |
執行標準 | GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008 |
測試范圍 | 1-10000nm(與樣品有關) |
濃度范圍 | 0.1mg/L-100mg/L |
準確度誤差 | <1%（國家標準樣品平均粒徑） |
重復性誤差 | <1%（國家標準樣品平均粒徑） |
激光 | λ=405nm，λ=532nm（雙波長激光器） |
探測器 | 光電倍增管（PMT） |
散射角 | 90° |
樣品池 | 10mm*10mm , 4ml（帶溫控保護） |
溫度范圍 | 8-45℃（溫度到0.1℃） |
測試速度 | <1Min/次（不含樣品分散時間） |
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