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更新時(shí)間：2024-11-26 11:25:47
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激光粒度儀動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計(jì)算機(jī)屏幕，用戶(hù)可以直觀且全面了解顆粒的表面及形狀屬性；
拼接多幅圖像 將選取不同視場(chǎng)拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測(cè)試結(jié)果更具代表性；
自動(dòng)分割粘連顆粒 采用更先進(jìn)的顆粒識(shí)別算法，對(duì)各種形狀的粘連顆粒都能自動(dòng)分割，顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時(shí)間；
自適應(yīng)二值化功能 采用一種自適應(yīng)二值化功能，使其進(jìn)行圖像二值化處理時(shí)不受拍攝光線(xiàn)的影響，避免了因光線(xiàn)不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況，為后續(xù)處理奠定基礎(chǔ)；
自動(dòng)處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動(dòng)處理工具集，集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點(diǎn)、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計(jì)算顆粒參數(shù)等功能的自動(dòng)操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過(guò)程，操作簡(jiǎn)便且結(jié)果可靠；
自由切換粒徑單位 標(biāo)尺選取支持多種長(zhǎng)度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換，便于用戶(hù)對(duì)通過(guò)電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步處理；
快速處理特殊形狀顆粒 對(duì)于球形顆粒，采用*的處理算法，對(duì)原始圖片無(wú)需進(jìn)行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息，即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會(huì)影響分析結(jié)果，提高球形顆粒的分析效率。
適用范圍:
BOS-DT180激光粒度儀動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹(shù)脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號(hào) | BOS-DT180 | |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 | |
成像系統(tǒng) | 測(cè)試范圍 | 4-400μm |
光學(xué)放大倍數(shù) | 150-1000倍可調(diào)，大可達(dá)1000倍 | |
大分辨率 | 0.5μm | |
攝像系統(tǒng) | 重復(fù)性 | ＜1% |
準(zhǔn)確性 | ＜1% | |
光源 | 采用藍(lán)色高亮LED點(diǎn)光源 | |
顆粒識(shí)別速度 | ＞10000個(gè)每分鐘 | |
攝像機(jī) | 采用高速攝像機(jī)，成像速度不低于120幀每秒 | |
進(jìn)樣方式 | 采用鞘流進(jìn)樣方式 | |
軟件功能 | 粒度分析 | 包括粒度分布、典型值、大粒徑、特定區(qū)間含量、大于或小于某粒徑的含量 |
粒形分析 | 長(zhǎng)徑比及分布、圓形度及分布、顆粒圖像 | |
顆粒計(jì)數(shù) | 計(jì)量一定體積液體中的顆粒個(gè)數(shù) | |
圓形度分析 | 能快速分析顆粒的圓形度 | |
比例尺標(biāo)定 | 通過(guò)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)微尺標(biāo)定后，可通過(guò)顆粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)驗(yàn)證系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。 | |
單個(gè)顆粒數(shù)據(jù) | 可在圖片上直接對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行截面積、體積、長(zhǎng)徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析。 | |
任務(wù)管理機(jī)制 | 嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶(hù)能夠?qū)⑺袦y(cè)試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來(lái)。 | |
報(bào)告輸出 | 分析報(bào)告可以多種形式呈現(xiàn)，同時(shí)可轉(zhuǎn)換成PDF、BMP、Word、Excel等格式 | |
整體分布特征參數(shù) | D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù) | |
報(bào)告參數(shù) | 整體頻率分布累計(jì)分布 | 顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線(xiàn)圖、柱狀圖等。 |
統(tǒng)計(jì)平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑 | |
形狀參數(shù) | 長(zhǎng)徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù) | |
表頭輸入 | 可以將樣品名稱(chēng)、測(cè)試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中 | |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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