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目錄:深圳市米恩科技有限公司>>測試系統>>致茂測試系統>> 3380/3380P/3380D致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統

致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統
  • 致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統
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  • 致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統
參考價50000-1000000/件
具體成交價以合同協議為準

參考價:¥50000 ~ ¥1000000

具體成交價以合同協議為準
  • Chroma/致茂 品牌
  • 3380/3380P/3380D 型號
  • 代理商 廠商性質
  • 深圳市 所在地

更新時間:2023-12-25 09:11:34瀏覽次數:11313評價

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產地類別 國產 應用領域 電子
致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統
50/100 MHz 測試頻率
50/100 Mbps 數據速率
1024 數字通道管腳 (蕞高1280 數字通道管腳)
高達1024 sites 并行測試
32/64/128 pattern 記憶體
16M capture memory per pin
多樣化 VI 電源

       歡迎光臨本公司網站!不管您來我們網站是選型號還是買產品,請加一下上方手機衛星號,保證我們提供的服務您會滿意的,因為我們是提供專業服務的。您能在茫茫網海中,找到我們這里,說明與我們很有緣分,不管結果如何,讓我們從這里開始相識、相交到相見。從此以后不管您身在何方,只要您有任何產品問題都可以向我們咨詢,我們會滿懷熱情,盡大的努力為您釋疑。您順手加個衛星備用,以后有相關問題發一條信息給我們,我們就可以為您解答,還可以為您提出一些相關專業的參考意見。一次簡單的相遇,交一生的朋友,買賣不成情誼在,這次不成,下次還有機會:合適——您今天下單;不合適——您改天下單;來與不來——友誼在;買與不買——情義在;一年又一年,我們一直都在翹首等待您的到來!米恩科技,誠信經營,用心服務 。————深圳市米恩科技有限公司

致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統

3380 VLSI測試系統

主要特色:

  • 50/100 MHz 測試頻率
  • 50/100 Mbps 數據速率
  • 1024 數字通道管腳 (蕞1280 數字通道管腳)
  • 高達1024 sites 并行測試
  • 32/64/128 pattern 記憶體
  • 16M capture memory per pin
  • 多樣化 VI 電源
  • 彈性化硬體架構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel trim/match 功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • 高速時序測試單位 (HSTMU)
  • 支援STDF工具
  • 測試program/pattern轉換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
  • AD/DA功能板卡 *可選配
  • SCAN向量存儲深度(蕞 2G bits/chain) *可選配
  • ALPG 測試功能可供記憶體IC用 *可選配
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 軟件介面與3380P/3360P相同
  • 人性化的 Windows 7操作系統

 為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為復雜的發展驅勢,Chroma以此發展方向提供新一代3380系列VLSI測試機臺,包含3380D、3380P、3380機型,根據不同的腳位數或并行測試(Parallel Test),提供需求與成本效益兼具的測試解決方案。

此系列機型之一的VLSI測試系統3380,具有蕞1280數字通道管腳、256 VI、彈性化架構、以及完整選項功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可符合高同測的市場驅勢,具備1024數字通道管腳可并行測試1024個晶片的能力。除了*的4-wire高密度IC電源(VI source)外,彈性化可調整的架構還可提供Mini & Macro LED驅動IC、CMOS影像感測器(CIS)、及3D影像測試等解決方案;以利涵蓋更廣泛的IC測試功能與應用范圍。

3380 VLSI測試系統可無縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins),以因應更高的產能需求。 3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上,長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。

應用范圍

  • 微控制器單元 (MCU)
  • ADC/DAC混合信號IC
  • 邏輯IC
  • ADDA
  • ALPG
  • Smart card
  • Mini & Macro LED驅動IC
  • CMOS影像感測器 (CIS)
  • 電源IC (Class D IC)
  • 消費性IC
  • LED驅動IC

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ModelDescription詢價
3380VLSI 測試系統 
 

致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統

3380P VLSI測試系統

 主要特色:

  • 50/100 MHz測試頻率
  • 50/100 Mbps數據速率
  • 512數字通道管腳 (蕞可至 576數字通道管腳)
  • 并行測試可達 512 sites 同測數
  • 32/64/128M Pattern 記憶體
  • 多樣彈性 VI 電源
  • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel Trim/Match 功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
  • SCAN向量存儲深度(蕞 2G bits/chain) *可選配
  • ALPG 測試選配供記憶體 IC用
  • STDF 工具支援
  • 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
  • 人性化 Window 7 操作系統
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 軟件介面與 3380P/3360P 相同
  • Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
  • Cable mount 治具可相容于3360D與3360P

 為因應未來IC晶片須具備更高速度及更多腳位及更復雜功能的IC晶片,Chroma新一代VLSI測試系統3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外,整合密度更高且功能更強大。

3380D/3380P/3380機型為因應高同測(HighParallel Test)功能,除內建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外,更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可并行測512 個測試晶片),以因應未來IC晶片更高的測試需求。

3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。

3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用介面、及成本效益上,長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。

涵蓋廣泛的應用范圍

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match...etc

Most Flexible Configuration for Various Devices

 

 

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ModelDescription詢價
3380PVLSI 測試系統

 

3380D VLSI 測試系統 

 主要特色:

  • 50/100 MHz測試頻率
  • 50/100 Mbps數據速率
  • 256數字通道管腳
  • 并行測試可達 256 sites 同測數
  • 32/64/128 M Pattern 記憶體
  • 多樣彈性 VI 電源
  • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel Trim/Match 功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
  • SCAN向量存儲深度(蕞 2G bits/chain) *可選配
  • ALPG 測試選配供記憶體IC用
  • STDF 工具支援
  • 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
  • 人性化 Window 7 操作系統
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 軟件介面與 3380P/3360P 相同
  • Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
  • Cable mount 治具可相容于3360D與3360P

 為因應未來IC晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為復雜的發展驅勢,Chroma VLSI測試系統3380D/3380P/3380除采用更彈性架構外,整合密度更高,且功能更強大。

3380D/3380P/3380機型為因應高同測功能(High Parallel Test),除內建*的4-wire功能高密度IC電源(VI source) 外,更具備any-pins-to-any-site高同測功能(256數字通道管可并行測256個測試晶片),以因應未來IC晶片更高的測試需求。

3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。

3380D VLSI測試系統非常適合應用于IoT相關的晶片測試,尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之MCU、MEMS等,VLSI測試系統3380D/3380P/3380 系列開發至今,已在大中華地區被廣泛的采用。

滿足晶片測試的各種應用范圍

Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match, and etc.

滿足晶片測試的各種應用范圍

相容性治具解決方案

3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP

3380D 3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card

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3380DVLSI 測試系統

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