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泰克4200A-SCS參數分析儀

主要性能指標

I-V 源測量單元(SMU)

• ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
• 100 fA測量分辨率
• 選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
• 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
• 四象限操作
• 2 線或 4 線連接

C-V 多頻率電容單元(CVU)

• AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
• 1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
• ± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源，可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
• 選配 CVIV 多通道開關，在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)
• 兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
• 200 MSa/s，5 ns 采樣率
• ±40 V (80 V p-p)，±800 mA
• 瞬態波形捕獲模式
• 任意波形發生器 Segment ARB® 模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率

高壓脈沖發生器單元(PGU)

• 兩個高速脈沖電壓源通道
• ±40 V (80 V p-p)，± 800 mA
• 任意波形發生器 Segment ARB®模式，支持多電平脈沖波形，10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
• 在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換，無需重新布線或抬起探針
• 把 C-V測量移動到任意端子，無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/ 開關模塊(RPM)
• 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動切換
• 把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
• 降低電纜電容效應

為材料、半導體器件和工藝開發提供*秀的參數分析儀

使用強大的Clarius 軟件，可以更加快速的完成I-V, C-V 和脈沖I-V 測試，結果清晰明了

泰克4200A-SCS參數分析儀

4200A-SCS 儀器和模塊

典型應用

MOSFET, BJT 晶體管
材料特性分析
非易失性存儲設備
電阻率系數和霍爾效應測量
NBTI/PBTI
III-V 族器件
失效分析
納米器件
二極管和pn 聯結
太陽能電池
傳感器
MEMS 器件
電化學
LED 和OLED