詳細介紹
OmniScan MX便攜式電渦流裂紋探傷儀經過現場驗證的、可靠的儀器
OmniScan MX是一款已經現場驗證、性能可靠的儀器,其機身結構堅固耐用,可以在嚴酷、惡劣的檢測環境中正常工作;現在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺。這款儀器緊湊、輕巧,使用兩節鋰離子電池供電,在電池滿電量時,可以進行長達6小時的手動或半自動檢測。
OmniScan MX便攜式電渦流裂紋探傷儀儀器的8.4英寸顯示屏可以實時顯示高清彩色圖像,在大多數光線條件下,操作人員都可以查看缺陷及其細微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡潔、直觀的界面上輕松瀏覽,也可以將USB鼠標連接到儀器,方便對檢測數據進行分析。
OmniScan MX是一款已經現場驗證、性能可靠的儀器,其機身結構堅固耐用,可以在嚴酷、惡劣的檢測環境中正常工作;現在世界上正在使用的OmniScan MX儀器有成千上萬臺。這款儀器緊湊、輕巧,使用兩節鋰離子電池供電,在電池滿電量時,可以進行長達6小時的手動或半自動檢測。
OmniScan MX便攜式電渦流裂紋探傷儀儀器的8.4英寸顯示屏可以實時顯示高清彩色圖像,在大多數光線條件下,操作人員都可以查看缺陷及其細微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀器簡潔、直觀的界面上輕松瀏覽,也可以將USB鼠標連接到儀器,方便對檢測數據進行分析。
一個平臺、兩款模塊、三種技術:靈活適用性更強
為了滿足更廣泛應用的要求,兩款模塊都提供渦流檢測(ECT)、渦流陣列(ECA)以及粘接檢測(BT)C掃描技術。兩款模塊都與MXE(ECT/ECA)和MXB(BT C掃描)軟件兼容;要做到這點,只需在各種技術之間進行簡單轉換,操作人員接受少許培訓即可。
ECA與ECT別無二致
覆蓋范圍廣,掃查速度快,檢出概率高
渦流陣列 (ECA) 技術融合了多種傳統的橋式或反射式(驅動器-拾波器)探頭線圈,以便在一次掃查檢測中覆蓋更大的范圍。此外,每款ECA探頭型號都經過精心設計,可在沿探頭長度方向上的目標缺陷范圍內保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時,可以非常快的速度手動移動ECA探頭進行檢測,并借助彩色圖像和歸檔功能,完成性能強大、效率很高的檢測。
單線圈:光柵掃查
為了滿足更廣泛應用的要求,兩款模塊都提供渦流檢測(ECT)、渦流陣列(ECA)以及粘接檢測(BT)C掃描技術。兩款模塊都與MXE(ECT/ECA)和MXB(BT C掃描)軟件兼容;要做到這點,只需在各種技術之間進行簡單轉換,操作人員接受少許培訓即可。
ECA與ECT別無二致
覆蓋范圍廣,掃查速度快,檢出概率高
渦流陣列 (ECA) 技術融合了多種傳統的橋式或反射式(驅動器-拾波器)探頭線圈,以便在一次掃查檢測中覆蓋更大的范圍。此外,每款ECA探頭型號都經過精心設計,可在沿探頭長度方向上的目標缺陷范圍內保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷儀時,可以非常快的速度手動移動ECA探頭進行檢測,并借助彩色圖像和歸檔功能,完成性能強大、效率很高的檢測。
單線圈:光柵掃查
陣列探頭:單行掃查
透過薄涂層進行檢測
渦流檢測(ECT)技術基于以下磁耦合工作原理:接近被測工件(鐵磁性或非鐵磁性的導電材料)的探頭傳感器(線圈)在被測工件中產生渦流,并在儀器的阻抗圖中顯示信號。使用渦流技術時,只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內,一般為0.5毫米到2.0毫米,就可以透過薄涂層(如:漆層)探測到材料中的缺陷。
渦流陣列(ECA)和渦流檢測(ECT)技術基于相同的基本原理(和物理學理論),因此也可以透過漆層進行檢測,而且ECA技術還具有以下優勢:覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高,及可進行彩色成像。
透過薄涂層進行檢測
渦流檢測(ECT)技術基于以下磁耦合工作原理:接近被測工件(鐵磁性或非鐵磁性的導電材料)的探頭傳感器(線圈)在被測工件中產生渦流,并在儀器的阻抗圖中顯示信號。使用渦流技術時,只要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離范圍內,一般為0.5毫米到2.0毫米,就可以透過薄涂層(如:漆層)探測到材料中的缺陷。
渦流陣列(ECA)和渦流檢測(ECT)技術基于相同的基本原理(和物理學理論),因此也可以透過漆層進行檢測,而且ECA技術還具有以下優勢:覆蓋范圍大、掃查速度快、檢出概率高,及可進行彩色成像。
渦流檢測使用的探頭為銅線繞制而成的線圈。線圈形狀可以變化,以更好地適用于特定的應用。
交流電流在所選的頻率下通過線圈,在線圈周圍產生磁場。
當線圈靠近導電材料時,材料中產生感應渦流。
如果導電材料中的缺陷干擾了渦流的流通,則探頭的磁耦合效果會發生改變。通過測量線圈的阻抗變化,可以解讀缺陷信號。
交流電流在所選的頻率下通過線圈,在線圈周圍產生磁場。
當線圈靠近導電材料時,材料中產生感應渦流。
如果導電材料中的缺陷干擾了渦流的流通,則探頭的磁耦合效果會發生改變。通過測量線圈的阻抗變化,可以解讀缺陷信號。