VIAVI mSWS掃頻波長系統        VIAVI mSWS掃頻波長系統          VIAVI mSWS掃頻波長系統

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基于 MAP 的全新掃頻波長系統 (mSWS-A2) 是下一代行業標準。有超過 100 家制造商在研發和生產環境中信賴和使用 SWS，根據波長測量插入損耗 (IL)、偏振相關損耗 (PDL)、回波損耗 (RL) 以及方向性。全的 mSWS-A2 提升了測試速度、精度和分辨率，而同時又保留它擁有利的分布式架構，實現業界本的測試。 mSWS 系統可以驗證光學組件和模塊的光學性能，包括：任何波長（colorless）、任何方向（directionless）和任何競爭（contentionless）（CDC）的 ROADM、口數波長開關、可調諧濾波器以及光路包。利用新一代 SWS2000 可調諧激光和源光學模塊 (SOM) 的功能，全新的 mSWS 系統增加了一種新的基于 Viavi Solutions MAP-200 光電測試平臺的下一代測量接收器。 mSWS 在整個 1520 至 1630 nm 范圍上的波長精度為 ±0.002 nm，能夠保持 100 nm/秒的高性能規格，是前幾代產品的兩倍。增加了新的可變波長分辨率功能，使用戶能夠選擇*的 0.4 至 3 pm 的分辨率。