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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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隨著CAP標(biāo)準(zhǔn)和FEMA需求的不斷發(fā)展，Trilithic的創(chuàng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
隨著CAP標(biāo)準(zhǔn)和FEMA需求的不斷發(fā)展，Trilithic的創(chuàng)
詳細(xì)介紹
ViaviFI-11光纖識(shí)別儀 ViaviFI-11光纖識(shí)別儀 ViaviFI-11光纖識(shí)別儀
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FI-10和FI-11手持式光纖識(shí)別儀穩(wěn)固可靠，易于安裝和維護(hù)，能夠檢測(cè)通過單模光纖傳輸?shù)墓庑盘?hào)，從而識(shí)別出光纖。它們采用局部檢測(cè)技術(shù)(非破壞性宏彎?rùn)z測(cè))，從而不再需要在接合點(diǎn)處打開光纖進(jìn)行識(shí)別，而這又消除了中斷服務(wù)的可能性.特點(diǎn)工作范圍為850-1700納米.與大多數(shù)AT&T和Corning光纖兼容.使用非破壞性宏彎技術(shù).檢測(cè)靈敏度為-40 dBm.雙向流量標(biāo)示.FI-10和FI-11手持式光纖識(shí)別儀穩(wěn)固可靠，易于安裝和維護(hù)，能夠檢測(cè)通過單模光纖傳輸?shù)墓庑盘?hào)，從而識(shí)別出光纖。它們采用局部檢測(cè)技術(shù)(非破壞性宏彎?rùn)z測(cè))，從而不再需要在接合點(diǎn)處打開光纖進(jìn)行識(shí)別，而這又消除了中斷服務(wù)的可能性.特點(diǎn)工作范圍為850-1700納米.與大多數(shù)AT&T和Corning光纖兼容.使用非破壞性宏彎技術(shù).檢測(cè)靈敏度為-40 dBm.雙向流量標(biāo)示.FI-10和FI-11手持式光纖識(shí)別儀穩(wěn)固可靠，易于安裝和維護(hù)，能夠檢測(cè)通過單模光纖傳輸?shù)墓庑盘?hào)，從而識(shí)別出光纖。它們采用局部檢測(cè)技術(shù)(非破壞性宏彎?rùn)z測(cè))，從而不再需要在接合點(diǎn)處打開光纖進(jìn)行識(shí)別，而這又消除了中斷服務(wù)的可能性.特點(diǎn)工作范圍為850-1700納米.與大多數(shù)AT&T和Corning光纖兼容.使用非破壞性宏彎技術(shù).檢測(cè)靈敏度為-40 dBm.雙向流量標(biāo)示.FI-10和FI-11手持式光纖識(shí)別儀穩(wěn)固可靠，易于安裝和維護(hù)，能夠檢測(cè)通過單模光纖傳輸?shù)墓庑盘?hào)，從而識(shí)別出光纖。它們采用局部檢測(cè)技術(shù)(非破壞性宏彎?rùn)z測(cè))，從而不再需要在接合點(diǎn)處打開光纖進(jìn)行識(shí)別，而這又消除了中斷服務(wù)的可能性.特點(diǎn)工作范圍為850-1700納米.與大多數(shù)AT&T和Corning光纖兼容.使用非破壞性宏彎技術(shù).檢測(cè)靈敏度為-40 dBm.雙向流量標(biāo)示.FI-10和FI-11手持式光纖識(shí)別儀穩(wěn)固可靠，易于安裝和維護(hù)，能夠檢測(cè)通過單模光纖傳輸?shù)墓庑盘?hào)，從而識(shí)別出光纖。它們采用局部檢測(cè)技術(shù)(非破壞性宏彎?rùn)z測(cè))，從而不再需要在接合點(diǎn)處打開光纖進(jìn)行識(shí)別，而這又消除了中斷服務(wù)的可能性.特點(diǎn)工作范圍為850-1700納米.與大多數(shù)AT&T和Corning光纖兼容.使用非破壞性宏彎技術(shù).檢測(cè)靈敏度為-40 dBm.雙向流量標(biāo)示.