日本KIKUSUI鞠水PID絕緣測量儀 TOS7210S （SPEC80776）
概要
PID絕緣測試儀（TOS7210S）是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID（Potential Induced Degradation）現象進行評估，以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎設計而成的測試儀。
附有極性切換功能，輸出電壓可達2000V,同時裝載了n*分辨率的電流表，因此不僅可以進行PID評估，

 日本KIKUSUI鞠水PID絕緣測量儀 TOS7210S (SPEC80776)

 

概要

PID絕緣測試儀（TOS7210S）是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現象進行評估，以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎設計而成的測試儀。
附有極性切換功能，輸出電壓可達2000V,同時裝載了n*分辨率的電流表，因此不僅可以進行PID評估，還可以用于要求進行高敏感度測試的絕緣體評估測試。標準安裝了可從外部調用的面板存儲器及RS232C接口，因此也可以靈活對應自動化系統。

什么是PID現象？
PID現象是指太陽能電池與邊框長期被施以高電壓，電池發電量顯著降低的現象。目前認為所施加的電壓越高，越是在高溫、高濕的環境下劣化現象越嚴重。如晶體硅太陽能電池模塊的輸出電壓即使只有數十V，一旦直接連接的片數增加，串內的電位差將變得非常高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作為交流電源與系統相連,使接地形態發生變化。輸入端采用浮接（一側電極不能接地線）的無變壓器方式近年有所增加。這種情況下電池和地線間將發生高電位差。現在可明確的是，晶體硅太陽能電池模塊中，相對于邊框（接地線）負極電位高的電池容易發生PID現象。（請參照圖1）目前，日本國內以大600V、歐洲以大1000V的系統電壓運行太陽能電池模塊，但是目前出現了提高大系統電壓以削減企業用大規模太陽能發電系統的串數、PCS總數，提高發電效率的趨勢。

圖2模擬了晶體硅太陽能電池模塊的處于高電位差的狀況。邊框為正極電位、模塊電路處于負*電位的狀況。目前認為是由于超白鋼化玻璃內的鈉離子向電池側遷移而引起劣化。（薄膜太陽能電池模塊也被確認出現PID現象，但是發生劣化的機制與晶體硅太陽能電池模塊不同。）現在，各種研究機構正在通過研究、試驗查找PID現象的原因。

 特長

• 可任意設定輸出電壓
  可將對被檢品施加的測試電壓設定在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范圍內。假設太陽能發電系統的電壓在1000V以上，可對其進行評估。此外，在電氣/電子部件、電氣/電子設備的絕緣電阻測試中，也可對應JIS C 1302: 1994所規定的電壓范圍以外的測試。在50V-1000V范圍內，輸出特性以JIS C 1302: 1994為基準。
• 極性切換功能
  可通過主機面板的開關輕松切換輸出極性。PID現象是一種可逆現象，施加負偏壓電壓可能會恢復。極性切換是一項不需要對被檢品實施配線變更的便利功能。此外，通過RS232C接口可實施由外部控制的切換。
• 建立輸出端的浮地
  輸出端子與接地電位間為浮地狀態(*1)。此外，使用屏蔽電纜作為輸出電纜 (TL51-TOS)。這樣就不會測量被檢品與大地間的電流，只測量測試點間的電流，可確保評估測試的高敏感度和精性。
  *1：設定為正極的端子的對地電壓（±1000Vdc）設定為負極的端子的對地電壓（+1000Vdc及-3000Vdc）
• 模擬輸出端子
  在電阻顯示模式中，基于對數壓縮將對應電阻測量值的電壓輸出限制在0V-4V之間。在電流顯示模式中，對應電流測量值及測量量程（4個量程）按線性標度輸出。使用數據記錄器等外部記錄設備可對被檢品的變化、劣化狀況進行解析。

 陣容

型號	規格
TOS7210S (SPEC80776)	PID絕緣測試儀（TOS7210S）是為準確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現象進行評估, 以絕緣電阻測試儀（TOS7200）為基礎設計而成的測試儀, 可在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范圍內實施設定, 可通過面板側的開關即時切換施加電壓極性, 輸出端子與接地電位間為浮地狀態, 只測量通過測量點間的電流. 可對電流測量值或電阻測量值進行切換顯示, 測試線（TL51-TOS）包括

日本KIKUSUI鞠水PID絕緣測量儀 TOS7210S (SPEC80776)