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金相材料顯微鏡MX120M
金相材料顯微鏡MX120M
同步設計了全套明暗場兩用物鏡,暗場照明亮度比傳統暗場物鏡提高 2 倍以上。采用全新設計的長工作距物鏡、半復消色差技術,多層寬帶鍍膜技術,采用長壽命LED光源,配合多種高度功能化的附件,50X 物鏡的有效工作距離 7.9mm,100X 物鏡的有效工作距離也達到了 2.1mm,更有20X 超長工作距金相物鏡,大幅拓展了 MX 機型的應用領域。,能滿足各種檢驗需要,可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察,專為LCD行業 / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查。
防震支架設計
機身由六端支架支撐,低重心、高穩定性全金屬機架,具備強效的抗震功能,確保像質穩定。
單顆大功率5W白色LED照明,帶斜照明機構。切換至斜照明時,可以使物體表面不同材質部分呈現立體圖案,增加觀察的對比度與視覺效果。
諾曼爾斯基微分干涉襯比系統
在三目觀察筒上,可以配接攝影攝像裝置,將雙目觀察到的圖像輸出至監視器或計算機,進行圖像分析、處理、保存或傳送。使用專用的 C 接口與中繼鏡,可以和數碼相機聯接,快速進行拍照,并獲取圖像。
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