根據(jù)相對測量工具的不同,大理石平臺檢測分為指示器法和光隙法兩種。
1、指示器法:指示器法是以指示表(百分表、千分表或測微表)將被測尺寸于標(biāo)準(zhǔn)尺寸進行比較,測出被測尺寸于標(biāo)準(zhǔn)尺寸之差的一種方法。測量時用大理石平臺工作面作為測量基面,按一定的布點方式,用指示表逐點測量并記錄讀數(shù),然后按一定的方法評出平面度誤差值。原則上應(yīng)采用小區(qū)域法評定平面度誤差,但是在實際檢測中經(jīng)常采用近似的評定方法,一種方法是在測量前,調(diào)整被測實際表面上相距遠(yuǎn)的三點距大理石平臺等高,然后在被測表面上均勻劃線布點逐點進行測量并記錄數(shù)據(jù),取各測點中的大讀數(shù)值與小讀數(shù)值之差,作為被測的平面度誤差值,此法稱為三點法。另一種方法是將實際表面一個對角方向上的兩個遠(yuǎn)點也調(diào)至相對大理石平臺等高,再將另外一個對角方向的兩個遠(yuǎn)點也調(diào)至相對大理石平臺等高,然后在被測表面上均勻劃線布點逐點進行測量,取各測點中的大讀數(shù)值與小讀數(shù)值之差作為被測表面的平面度誤差,此法稱為對角線法。
對角線法和三點法都不符合小條件,所以評定出的誤差值均大于按小區(qū)域法評定出的誤差值,但是,由于這兩種方法檢測方便且經(jīng)濟實用,所以仍被實際測量所采用,如發(fā)生爭議,應(yīng)以小區(qū)域法評定的結(jié)果作為仲裁依據(jù)。
2、光隙法:光隙法則是用刀口尺、大理石平臺等將被測量于標(biāo)準(zhǔn)量差值表征為光隙大小的。這種方法是把被測零件放在大理石平臺上,使被測面與大理石平臺工作面接觸,輕微手動零件一下,使零件穩(wěn)定地不受外力的影響*靠自重與大理石平臺接觸,用塞尺測零件四周,測得的大間隙就是被測零件的平面度誤差近似值。本辦法簡單、實用,特別適合于在生產(chǎn)現(xiàn)場對中小型蓋、板類零件平面度誤差的檢測。
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