A-5000-7807雷尼紹測(cè)針三坐標(biāo)測(cè)針

A-5000-7807雷尼紹測(cè)針三坐標(biāo)測(cè)針

TP200 / TP200B測(cè)頭本體 TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。 
TP200規(guī)格摘要TP200TP200B
主要應(yīng)用需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。傳感器方向六軸：±X、±Y、±Z六軸：±X、±Y、±Z單向重復(fù)性 (2s µm)觸發(fā)水平1：0.40 µm觸發(fā)水平2：0.50 µm觸發(fā)水平1：0.40 µm觸發(fā)水平2：0.50 µmXY（2D）輪廓形式測(cè)量偏差觸發(fā)水平1：±0.80 µm 觸發(fā)水平2：±0.90 µm觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.2 µmXYZ (3D) 輪廓測(cè)量偏差觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.40 µm觸發(fā)水平1：±2.50 µm 觸發(fā)水平2：±4 µm測(cè)針交換的重復(fù)性SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動(dòng)：±1 µm（zui大）SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動(dòng)：±1 µm（zui大）測(cè)力（測(cè)尖）XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 NXY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N超程測(cè)力（位移為0.50 mm時(shí)）XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 NXY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N重量（測(cè)頭傳感器和模塊）22 g22 gzui長(zhǎng)加長(zhǎng)桿（如配在PH10系列測(cè)座上）300 mm300 mm推薦的zui大測(cè)針長(zhǎng)度（M2測(cè)針系列）SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GFLF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GFSF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GFLF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF安裝方式M8螺紋M8螺紋適合的接口PI200、UCCPI200、UCC測(cè)針模塊交換架自動(dòng)：SCR200手動(dòng)：MSR1自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1測(cè)針系列M2M2
TP200測(cè)針模塊測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上，具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭超程保護(hù)功能。有三種測(cè)針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測(cè)力。模塊SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）LF（低測(cè)力）EO（長(zhǎng)超程）
應(yīng)用一般使用。小直徑測(cè)球或必須使用zui小測(cè)力的場(chǎng)合。額外超程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。留言測(cè)針zui長(zhǎng)可達(dá)100 mm，測(cè)球直徑 > 1 mm。測(cè)球直徑小于1 mm。與SF的超程測(cè)力相同。測(cè)頭Z軸的額外超程為8 mm。
英國(guó)雷尼紹
手動(dòng)測(cè)座MH20i Renishaw TP20 測(cè)頭 Renishaw TP200 測(cè)頭