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霍爾效應測試儀霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。
閱讀：2054 發布時間：2019-7-1霍爾效應測試儀產品簡介：
霍爾效應的測量是研究半導體的重要實驗方法。利用霍爾系數和電導率的聯合測量，變溫霍爾實驗儀可以用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數與電導率溫度的變化，可以確定半導體的禁帶寬度、雜質電離能及遷移率的溫度系數等基本參數。
霍爾效應測試儀采用現代電子技術和計算機數據采集系統，對霍爾樣品鉆弱場條件下進行變溫霍爾系數和電導率的測量，來確定半導體材料的各種性質。
霍爾效應測試儀技術參數：
電 磁 鐵：0-300mT可調
勵磁電源：0-可調，可自動換向
穩 定 性：<±0.1%
數字特斯拉計：0-2000mT三位半數字顯示
恒流源輸出：1mA
穩 定 性：±0.1%
數據采集系統霍爾電壓測量分辨率：1uV
溫度變化測量范圍：80-400K
工作電源：AC 220V;50Hz
功率范圍：200W
霍爾效應測試儀實驗裝置：
變溫霍爾測試儀主要是由電磁鐵、可自動換向穩流源、恒溫器、測溫控溫系統、數據采集及數據處理系統等。