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測量速度快 < 每個測試點需 3.5 μs 較寬的中頻帶寬: 1/5/30 MHz 通用校準方法: 自動校準單元 在有無 LO 接入的混測量速度快 < 每個測試點需 3.5 μs 較寬的中頻帶寬: 1/5/30 MHz 通用校準方法: 自動校準單元 在有無 LO 接入的混頻器上的相位及群延時測量 頻率范圍:300 kHz 至 8 GHz頻器上的相測量速度快 < 每個測試點需 3.5 μs 較寬的中頻帶寬:測量速度快 < 每個測試點需 3.5 μs 較寬的中頻帶寬: 1/5/30 MHz 通用校準方法: 自動校準單元 在有無 LO 接入的混頻器上的相位及群延時測量 頻率范圍:300 kHz 至 8 GHz 1/5/30 MHz 通用校準方法: 自動校準單元 在有無 LO 接入的混頻器上的相位及測量速度快 < 每個測試點需 3.5 μs 較寬的中頻帶寬: 1/5/30 MHz 通用校準方法: 自動校準單元 在有無 LO 接入的混頻器上的相位及群延時測量 頻率范圍:300 kHz 至 8 GHz群延時測量 頻率范圍:300 kHz 至 8 GHz位及群延時測量 頻率范圍:300 kHz 至 8 GHz測量速度快 < 每個測試點需 3.5 μs 較寬的中頻帶寬: 1/5/30 MHz 通用校準方法: 自動校準單元 在有無 LO 接入的混頻器上的相位及群延時測量 頻率范圍:300 kHz 至 8 GHz

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