Olympus奧林巴斯45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀
應用
檢測管道中的內壁減少情況。
背景
局部墻壁減少并不總是由腐蝕引起。在板材軋制期間或在管材制造過程中形成的初始階段可以產生壁減少。鋼中的印模可以通過成形輥產生。施加到成形輥的高表面壓力和熱量會引起剝落。剝落并從輥子上脫離的金屬片可落入進入板的路徑中，使得片件粘合到輥子上。一旦碎片與輥子結合，就會在被軋制的板材中開始出現印痕。因此，由輥引起的印模的術語偽影看起來類似于由腐蝕引起的壁減少。
在許多情況下，新管道將投入使用此類工件。當管道運行后再進行腐蝕檢查時，檢查人員可能會發現這些墻壁減少偽影并將其誤認為是腐蝕單元。如果發生這種情況，工藝工程師可能會推斷出不正確的腐蝕速率并導致不正確的工藝變化和/或化學添加 然而，簡單的超聲測量程序可以在制造或安裝階段識別偽影。
設備
型號38DLP PLUS厚度計，或帶波形顯示選件的45MG型應變計，以及D790雙元件傳感器（5 MHz）。
例
下圖中的管道是采用ERW工藝制造的8“x .250"壁碳鋼1018等級。深色凹痕是減少在管道形成過程中發生的壁厚的偽影。ID或OD上沒有腐蝕。
厚度測量以與腐蝕測量相同的方式進行。在左圖中，量具讀取全壁厚度。在右圖中，較薄的讀數表示內表面上的壁變薄偽影。
在試圖區分制造工件和腐蝕電池時，檢查員可能會考慮以下因素：
確定管道是ERW還是無縫管道。
確定墻體減少的方向是軸線而不是隨機。
如果管道回路中的多個或所有接頭都是ERW，請確定每個接頭上的工件所在的線。檢查員可能會發現線路相對于管道改變方位角位置。
如果發現電路中的管道連接是無縫的并且沒有墻壁減少。
結論
可以通過超聲波厚度測量來檢測管道中的制造偽影。執行管道厚度測量的檢查員應了解這種損壞機制。向過程工廠質量控制檢查員通知該潛在問題以避免過高估計腐蝕速率也很重要。
45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀
手持式45MG是一款配置有各種測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款儀器與所有奧林巴斯雙晶和單晶探頭探頭兼容。
38DL PLUS
38DL PLUS是一款高級超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內部腐蝕的部件進行檢測。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、極厚材料以及多層材料進行的厚度測量。
| 測量 | 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后延遲到*個回波之間的時間間隔。 |
|---|---|---|
| 自動回波到回波（可選） | 在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 | |
| 穿透涂層測量 （可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） | |
| 單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。 模式2：延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。 | |
| 厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量較全的范圍需要使用單晶選項） | |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） | |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸） | |
| 探頭頻率范圍 | 標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） | |
| 一般規格 | 操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 鍵盤 | 密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 | |
| 機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼，機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 | |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |
| 重量 | 430.9克 | |
| 電源 | 3節AA電池/USB電源供應 | |
| 電池工作時間 | 3節AA堿性電池：20到21小時 3節AA鎳氫電池：22到23小時 3節AA鋰離子電池：35到36小時 | |
| 標準 | 設計符合EN15317標準 | |
| 顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波（波形選項） | |
| 輸入/輸出 | USB | 2.0從接口 |
| 存儲卡 | 最大容量：2 GB可插拔microSD存儲卡 | |
| 內置數據記錄器（可選） | 數據記錄器 | 45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形 | |
| 文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼 | |
| 文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 | |
| 報告 | 機載報告總結了數據統計和最小值/最大值 |
標準配置
45MG數字式超聲測厚儀
AA堿性電池
2階試塊和耦合劑
USB線纜
用戶手冊，存于CD盤上
測量功能：最小值/最大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
軟件選項
45MG-SE (U8147022)：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-HP (U8147023)：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂層
45MG-WF (U8147019)：波形選項
45MG-DL (U8147020)：內置數據記錄器，包含GageView接口程序
選購附件
MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置microSD存儲卡
45MG-RPC (U8779676)： 帶支架的橡膠保護套
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
自動回波到回波
手動回波到回波（僅出現于A掃描選項），可進行以下操作：
增益調整
擴展空白
回波空白
穿透涂層技術
| 使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 |
顯示A掃描的自動回波到回波模式
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）
調整*個回波空白的手動回波到回波模式
顯示可選波形的穿透涂層模式
用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的厚度測量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
大多數薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機加工部件
汽缸孔、渦輪葉片
玻璃燈泡、瓶子
薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
曲面部分或內圓角半徑較小的容器
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。
大多數較厚或聲音衰減性較強的材料
厚鑄造金屬部件
厚橡膠輪胎、履帶
玻璃纖維船體、儲存罐
復合材料板
對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）
45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。數據記錄器選項包含GageView接口程序。
數據記錄器選項
內置存儲容量為475000個厚度讀數，或20000個帶有厚度讀數的波形。
32位字符的文件名稱
20位字符的ID#（TML#）編碼
6個文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機上手動創建的文件格式
內置microSD存儲卡和可插拔microSD存儲卡
可以在內置和可插拔microSD存儲卡之間拷貝文件
標準型USB通訊
單晶探頭設置的雙向傳輸
機載統計報告
機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：
通過USB端口
讀取microSD存儲卡上的數據，或在存儲卡上寫入信息
可將內部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式或.txt格式，直接導出到microSD存儲卡
在PC機上可以看到以柵格形式出現的數據通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。
可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數的測量報告。
機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序
包含在數據記錄器選項中
基于Windows的GageView接口程序用于收集、創建、打印及管理來自45MG測厚儀的數據
創建數據集和測量總結
編輯所存數據
顯示數據集和測量總結文件。文件包含厚度讀數、測厚儀設置值及探頭設置值
從測厚儀上下載厚度測量總結，或上傳厚度測量總結至測厚儀
將測量總結導出到電子表格及其它程序
收集捕獲的屏幕
打印有關厚度、設置表格、統計及彩色柵格的報告
升級45MG軟件
下載和上傳單晶探頭設置文件
在PC機上可以看到以柵格形式出現的數據通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。
用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數，對增益和空白設置進行手動調整，以在具有挑戰性的應用中最大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、個回波空白、范圍及延遲參數。
化工儀器網