產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
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應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,綜合 | 內尺寸 | 400*500*400 |
控溫方式 | 風冷 |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
冷熱沖擊測試的設備適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。有瞬間從高溫沖到低溫或者從低溫瞬間沖擊到高溫的試驗功能。適用于所有工業(yè)材料、工業(yè)產(chǎn)品的成品或者半成品。
的技術參數(shù):
冷熱沖擊測試的設備的性能參數(shù)參考如下:
一、低溫沖擊可選擇溫度范圍:A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃(廠家還免費配高溫至150度)。
二、溫度偏差:±2℃。
三、溫度波動度:±0.5℃。
四、溫度恢復時間:≤5min。
五、溫度恢復條件:高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
六、溫度沖擊轉移方式:采用氣動驅動。
七、高溫室儲溫的升溫時間:30min (+25℃~+200℃)。
八、低溫室儲溫的降溫時間:65min (+25℃~-75℃)。
九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音:(dB)≤65( 標準規(guī)定≤65分貝不算噪音)
十、型號 內箱尺寸(mm) 外箱尺寸(mm) 功率(kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0
本設備滿足 | GBT 2423.1-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A低溫 |
GBT 2423.2-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 | |
GBT 2423.4-2008 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db: 濕熱循環(huán). | |
GBT 2423-3-2006 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 恒定濕熱 | |
GBT 10592-1989 | 高低溫試驗箱 技術條件 | |
SJT 31391—1994 | 恒溫試驗箱完好要求和檢查評定方法 |