當前位置:廣州領拓儀器科技有限公司>>其他設備>>賽默飛世爾Thermo Fisher(FEI) 掃描電鏡>> Thermo Scientific™ Apreo 掃描電鏡
·全面實現納米或亞納米分辨性能,從納米顆粒,粉末,催化劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料。
·的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度,即使是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV 速率成像是也不例外。
·無比靈活的探測器可將各個探測器分割提供的信息相結合,讓用戶能夠獲得至關重要的對比或信號強度。
·各種各樣的荷電緩解策略,包括樣品倉壓力為 500 Pa 的低真空模式,可實現任何樣品的成像。
·的分析平臺提供高電子束電流,而且束斑很小。倉室支持三個 EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析而優化的低真空系統。
·樣品處理和導航極容易,具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。
·通過高級用戶指導、預設和撤消功能為新用戶提供專家級結果。
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