M1—Mistrial X射線熒光鍍層測厚儀

Mistrial系列是Bruker布魯克推出的一款簡潔、堅固和可靠的質量控制XRF臺式熒光系統，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。

Mistrial可應用于常規金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業，完成單層或多層厚度測量。

M1—Mistrial X射線熒光鍍層測厚儀主要特點包括：

§  成本低、快速、非破壞的EDXRF分析

§  可完成至多12層鍍層（另加底材）和25個元素的鍍層厚度測試，

§  的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數22號）到鈾（92號）各元素

M1—Mistrial X射線熒光鍍層測厚儀使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術, Mistrial可實現如下測試要求：

§ 符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度

§ 符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層

§ 至多同時分析25種元素

儀器技術規格：