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產品簡介
詳細介紹
偏光顯微鏡CX31P
操作簡便，能進行正規偏振光觀察的小型型號
形體小，能執行正規偏振光觀察和多種延遲測量。容易攜帶，形體小，無需選擇使用場地可靈活運用。
減小光學失真的偏振光物鏡
小光學失真的偏振光用物鏡PLN4×P、ACHN-P系列產品和UPLFLN-P系列產品。綜合地提高了偏振光性能，實現了高對比度的偏振光觀察。
改良后的起偏振器和分析儀
專門設計的聚光鏡和偏振光濾鏡，大大增強了偏振光圖像。
＊EF值：平行尼科爾和正交尼科爾的亮度比率，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。
操作點集中的小型正像鏡／錐光鏡觀察用中間鏡筒
通過插入或拔出勃氏透鏡切換正像鏡和錐光鏡，以及錐光鏡圖像的對焦、分析儀的裝卸和旋轉、任意角度定位等各種操作都能夠集中進行。
防止影像不穩定的高度剛性機架
機體內部的對焦調節機構、載物臺支撐等各部分的完善化確保了高度剛性，由此帶來的*光學性能提升了基本性能。與此同時，帶刻度尺的旋轉載物臺實現了高耐久性。
調整瞳間距時十字線也不會傾斜的雙目觀察筒
雙目觀察筒采用了調瞳間距時目鏡的十字線標度不會傾斜的機構。可以正確的配合偏振光的振動方向。
精密調芯結構
帶有雙向調芯旋鈕的圓形旋轉載物臺,可以輕松調芯。旋轉子阿物臺的每45度位置有定位系統，使得在正確方向觀察、測量。
補償板 | 測量范圍 | 主要用途 |
U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 較大的延遲測量（R*＞3λ）。 （結晶、高分子、纖維、光彈性失真等） |
U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延遲測量 （結晶、高分子、纖維、生物體組織等） |
U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延遲測量（結晶、生物體組織等） 對比度增強（生物體組織等） |
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延遲測量（結晶、生物體組織等） 對比度增強（生物體組織等） |
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延遲的近似測量（結晶、高分子等） |