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當前位置:> 供求商機> 安捷倫4287A射頻LCR測試儀配測試頭夾具
技術指標
測量參數 Z|,|Y|,L,C, R,D, Q, X,G,B,θ
測量電路形式:串聯和并聯
工作頻率:1 MHz~3 GHz
頻率分辨率:10 kHz
信號源特性:
振蕩器電平:5mVrms~0.25Vrms(輸出端開路)
電平顯示單位:V,I,dBm
連接器:APC-3.5
輸出阻抗(額定值):50Ω
觸發:內部,外部,手動和GPIB
阻抗測量范圍:200 mΩ~3 kΩ
基本測量精度 Z|:1%;D:0.01
測量時間:10 ms
接口:GPIB,處理器接口
顯示器:8.4英寸彩色LCD顯示器
儲存:內置HDD/FDD,備用SRAM存儲器
一般指標
工作溫度/濕度:10~40℃/相對濕度15%~80%
預熱時間:30分鐘
電源要求:90V~132V,或198V~264V,47Hz~66Hz,500VA(大值)
尺寸:主機:426mm(寬)×234mm(高)×446mm(長)
主要技術資料
·儀器指標:
1MHz~3GHz,以100KHz分檔
阻抗測量范圍寬,從200mΩ到3KΩ
在低測度信號電平上具有優良的測量重復性
基本精度為1%
高速測量9ms
·Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供,
可靠和快速測量,以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。
與反向測量技術不同,采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行測量。
·生產 質量可靠
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非常快。此外,在小測試電流(100mA)處優良的
測試重復性還可以 提高生產率,因為所需的取平均過程非常短。
·系統組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近,而不會使誤差有任何增大。
安捷倫4287A射頻LCR測試儀配測試頭夾具 安捷倫4287A射頻LCR測試儀配測試頭夾具 安捷倫4287A射頻LCR測試儀配測試頭夾具
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