MM3A-LS 參考價(jià)：面議
德國(guó)Kleindiek Nanotechnik納米顯微操縱儀MM3A-LS1 壓電陶瓷納米馬達(dá)2 納米級(jí)分辨率3 厘米級(jí)移動(dòng)范圍4 體積小5 無漂移
Micro-Gripper 參考價(jià)：面議
壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)的微鑷子，實(shí)現(xiàn)夾持的功能。開口步進(jìn)：20nm，應(yīng)用于轉(zhuǎn)運(yùn)和微器件的組裝。
FMS-EM Force Measurement System 參考價(jià)：面議
力的反饋從外部的控制器面板上直接讀取，硅探針可以在材料上進(jìn)行納米壓痕。
顯微操縱器 參考價(jià)：面議
主要特點(diǎn)：納米級(jí)移動(dòng)精度厘米級(jí)移動(dòng)范圍，快速移動(dòng)壓電陶瓷構(gòu)成納米馬達(dá)，零漂移
MM3A納米顯微操作儀 參考價(jià)：面議
MM3A納米顯微操作儀體積小，可安裝在電鏡觀察窗里。無漂移：小于1nm/min。多種安裝方式，兼容市場(chǎng)上主流電鏡品牌和型號(hào)
cryo-FIB lift-out夾具 參考價(jià)：面議
kleindiek顯微納米操作，smart your lab。
kleindiek納米機(jī)械手 參考價(jià)：面議
電學(xué)測(cè)試 系統(tǒng)依據(jù) Agilent 和 Keithley的 SMU和SCS 的接口要求集成了電測(cè)試接口。可以對(duì)樣品進(jìn)行各種電學(xué)測(cè)試和功能測(cè)試，測(cè)試電流可以達(dá)到...
超微力測(cè)量裝置 參考價(jià)：面議
德國(guó)kleindiek超微力測(cè)量系統(tǒng)是高精度微力測(cè)量測(cè)試系統(tǒng)，它與顯微操作器聯(lián)合使用,用于測(cè)量納米壓痕和超微力測(cè)量,還可用于測(cè)量細(xì)胞力學(xué),楊氏模量,微機(jī)電系統(tǒng)M...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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