少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+) 參考價(jià)：面議
少子壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC...
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀 參考價(jià)：1000000
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測量儀被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺(tái)式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的注入范圍內(nèi)測...
MDPlinescan在線少子壽命測試儀 參考價(jià)：1000000
MDPlinescan在線少子壽命測試儀靈活的OEM少子壽命測試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的...
MDPspot少子壽命測試儀 參考價(jià)：1000000
MDPspot少子壽命測試儀低成本桌面單點(diǎn)測量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內(nèi)置自動(dòng)化。可選手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品...
MDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測儀--少子壽命 參考價(jià)：面議
弗萊貝格的MDPpro（MDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測儀--少子壽命）系列主要用于測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查等，其非接觸式檢測和無...
MDPmap晶圓片壽命檢測儀--少子壽命測試 參考價(jià)：面議
MDPmap（MDPmap晶圓片壽命檢測儀--少子壽命測試）是一個(gè)緊湊的離線臺(tái)式檢測設(shè)備，主要被設(shè)計(jì)用于生產(chǎn)控制或研發(fā)、測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息...
MDP在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測儀 參考價(jià)：面議
德國弗萊貝格MDPinlinescan（MDP在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測儀）是一款靈活的OEM設(shè)備，可以用于多種不同樣品的在線壽命測量：從單晶到多晶硅錠，從...
MDP高速晶圓片在線面檢測儀--少子壽命檢測 參考價(jià)：面議
MDPinline（MDP高速晶圓片在線面檢測儀--少子壽命檢測）是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，...
MDP晶錠在線面掃檢測儀--進(jìn)口少子壽命測試 參考價(jià)：面議
德國弗萊貝格儀器的MDPinline ingot（MDP晶錠在線面掃檢測儀--進(jìn)口少子壽命測試）系統(tǒng)是快速多晶硅晶錠電學(xué)參數(shù)特性測量工具。它是專為高通量工廠的單...
MDP微波探測光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀--少子壽命 參考價(jià)：面議
德國Freiberg Instruments的MDPicts（MDP微波探測光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀--少子壽命），非接觸且無損傷，用于溫度依賴的少數(shù)載流子壽命測量以...
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation） 參考價(jià)：面議
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
晶圓片晶錠壽命檢測儀 參考價(jià)：面議
晶圓片晶錠壽命檢測儀用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材料研發(fā)的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量
MDPlinescan 參考價(jià)：面議
靈活的OEM設(shè)備，用于多種不同樣品的在線壽命測量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態(tài)晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過程控制。標(biāo)準(zhǔn)軟件接口，易于連接到許多處理或自動(dòng)化系...
晶圓片在線面掃檢測儀 參考價(jià)：面議
晶圓片在線面掃檢測儀是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時(shí)間內(nèi)，就可以“動(dòng)態(tài)"測量出晶圓圖...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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