好消息!法國Phasics公司高精度紅外/近紅外波前傳感器取得出口豁免,無需出口許可!
法國Phasics成立于2003年,提供zui先jin的光學計量和成像解決方案。PHASICS公司波前傳感器采用其獲得zuan利的四波橫向剪切干涉測量術(QWLSI)。這項技術克服Shack-Hartmann傳感器的局限性,從而可以獲得超高分辨率、高靈敏度(亞納米)和寬動態范圍。
近期法國PHASICS公司從法國商務部獲悉,公司提交申請的高精度紅外(3-5um &8-14um)/近紅外(900-1700nm)波前傳感器出口豁免申請已獲得通過。這就意味著客戶采購SID4-DWIR紅外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近紅外(900-1700nm)波前傳感器時無需再提供最終用戶備案。
下面我們將為大家詳細的介紹下這幾款波前分析儀:
1. SID4-SWIR近紅外(900-1700nm)波前傳感器
圖1 SID4-SWIR波前分析儀
SID4-SWIR近紅外(900-1700nm)波前傳感器產品特點:
高相位分辨率:160x128 or 80x64
高重復度:<2nm RMS
高測量精度:15nm RMS
工作波段:900-1700nm
高靈敏度:可適用于低功率紅外光源測試
瞬時相位測量,對振動不敏感
可接受非準直光入射,光路搭建簡易快捷
2. SID4-DWIR紅外(3-5um & 8-14um)波前分析儀
圖2 SID4-DWIR波前分析儀
SID4-DWIR紅外(3-5um & 8-14um)波前分析儀產品特點:
寬工作波段:3-5um & 8-14um
高相位分辨率:160x120
高重復度:25nm RMS
高測量精度:75nm RMS
對振動不敏感
可接受非準直光入射,光路搭建簡易快捷
3. 近紅外 or 紅外光學元器件面型、透射波前、MTF測試系統
圖3 Kaleo Kit紅外測試模組
近紅外 or 紅外光學元器件面型、透射波前、MTF測試系統產品特點:
多波長:266nm, 355nm, 405nm,550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm,1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um
大口徑:Up to 5.1"(130mm)
高重復度精度:<0.7nm RMS
高測量精度:80nm PV
對震動不敏感
測試案例:
圖4 非球面測試結果
圖5 平面測試結果
圖6 鏡頭透射波前測試結果
圖7 鏡頭MTF測試結果
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