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超高速：1毫秒[TYP]（測(cè)量期間的時(shí)間）
2pF/20pF量程5V測(cè)量大大提高微電容的穩(wěn)定性
即使在 2 端子（4 端子）測(cè)量期間，也可通過(guò)檢測(cè)測(cè)量值的異常來(lái)檢測(cè)探頭接觸故障。
4端子接觸檢查：測(cè)量后/關(guān)閉可選
測(cè)量頻率：1kHz/120Hz±0.1%（正弦波）
串聯(lián)等效電路、并聯(lián)等效電路可切換
恒壓測(cè)量（部分量程不支持）
可進(jìn)行 tanδ 測(cè)量（不支持 2pF 范圍）
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
超高速：1毫秒[TYP]（測(cè)量期間的時(shí)間）
2pF/20pF量程5V測(cè)量大大提高微電容的穩(wěn)定性
即使在 2 端子（4 端子）測(cè)量期間，也可通過(guò)檢測(cè)測(cè)量值的異常來(lái)檢測(cè)探頭接觸故障。
4端子接觸檢查：測(cè)量后/關(guān)閉可選
測(cè)量頻率：1kHz/120Hz±0.1%（正弦波）
串聯(lián)等效電路、并聯(lián)等效電路可切換
恒壓測(cè)量（部分量程不支持）
可進(jìn)行 tanδ 測(cè)量（不支持 2pF 范圍）
HI/GO/LO 輸出，帶 3 1/2 位 (1999) 數(shù)字顯示和內(nèi)置比較器功能
RS-232C接口、打印機(jī)輸出（Centronics兼容）標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（GP-IB可選）
間歇地施加測(cè)量電流以減少探頭接觸磨損[120μF/1.2mF范圍]
即使在測(cè)量過(guò)程中，也可以將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、日期、時(shí)間等輸出到打印機(jī)。