產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
小型恒溫恒濕環(huán)境老化儀是電工電器、航空、汽車、家電、涂料、科研等領(lǐng)域*的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行耐干、耐旱、耐寒、耐潮濕等試驗(yàn)溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
小型恒溫恒濕環(huán)境老化儀 應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體 | 汽車生產(chǎn)廠 | 化工工業(yè) |
印刷線路板 | 摩托車生產(chǎn)廠 | 橡膠與塑料工業(yè) |
電子消費(fèi)產(chǎn)品 | 汽車配套-附件廠 | 化工行業(yè) |
電子消費(fèi)產(chǎn)品包裝 | 汽車研究開發(fā)中心 | 紡織工業(yè) |
電子工業(yè) | 汽車測(cè)試檢驗(yàn)中心 | 建筑材料工業(yè) |
兵器工業(yè) | 機(jī)器人行業(yè) | 傳感器工業(yè) |
船舶工業(yè) | 航天工業(yè) | 生物制品 |
自動(dòng)化儀器,儀表 | 航空工業(yè) | 醫(yī)藥工業(yè) |
電腦 | 食品包裝 | |
通信設(shè)備 | 安全與系統(tǒng) | 紙品(張) |
手機(jī)生產(chǎn)廠 | 教育/科研/院校/研究所 | 工業(yè)卷煙(草)工業(yè) |
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
3.GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
4.GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
5.GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
6.GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
7.GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
8.GB/T 5170.18-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
9.GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分:總則
10.GB/T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語
11.GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
(idt IEC 60068-2-1:1990);
12.GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
(idt IEC 60068-2-2:1974);
13.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
(IEC 60068-2-78:2001,IDT);
14.GB/T 2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)。(idt IEC 60068-2-38:1974);
15.GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
(eqv IEC 60068-2-30:1980);
16.GB/T 2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
17.GB/T 2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則 (idt IEC 60068-3-1:1974);
18.GB/T 2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則 (idt IEC 60068-3-4:2001);
19.GB/T 2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn) (idt IEC 60068-3-5:2001);
20.GB/T 2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn) (idt IEC 60068-3-6:2001);
21.GB/T 2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量
(idt IEC 60068-3-7:2001);
22.GJB150-1-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 總則
23.GJB150-3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
24.GJB150-4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)
25.GJB150-9-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)