產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 農業,電子,交通,航天,汽車 |
產品簡介
詳細介紹
半導體集成器芯片的三箱式冷熱沖擊試驗箱
三箱式沖擊箱特點 分高溫區、低溫區,試驗區三部分,測試樣品放置在試驗區內,通過風門開關方式實現高溫室和低溫室能量傳遞到試驗區效果,完成冷熱溫度沖擊測試。
半導體集成器芯片的三箱式冷熱沖擊試驗箱
1.GB/T 2423.1-2008 試驗A:低溫試驗方法、
2.GB/T 2423.2-2008 試驗B:高溫試驗方法、
3.GB/T2423.22-2002 試驗N:溫度變化試驗方法 試驗Na
4.GJB 150.5A-2009 設備實驗室環境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
5.GJB 360A-1996 溫度沖擊試驗、IEC 68-2-14 試驗方法 N :溫度變化
6.GJB367.2-2001通信設備通用規范溫度沖擊試驗
技術參數
3.8 低溫區預冷溫度 | -70℃~-10℃ |
降溫 +20℃ → -65℃≤70min 注:降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能 | |
3.9 溫度波動度 | ±0.5 ℃ |
3.10 溫度均勻度 | ±2.0 ℃ |
3.11溫度穩定時間 | ≤3-5min |
3.12 升 溫 速 率 | 高溫曝露:+85℃/30min→環境溫度曝露→低溫曝露:-60℃/30min |
3.13 電源規格及功率 | AC 380V±10% 頻率50HZ,總功率:68.0KW ,運行功率60KW |
3.14 噪音 | 70db |
3.15 控制儀表 | 中國臺灣威碩品牌原裝7"寸大屏幕觸摸屏控制儀表 |
3.17制冷壓縮機 | 進口德國比澤爾半封閉壓縮機兩臺 |