當前位置:上海富瞻環保科技有限公司>>分析儀器>>實驗室SAXS系統>> 實驗室光束線裝置: SAXSpoint 5.0
SAXS/WAXS/BioSAXS 系統: SAXSpace
應用領域 | 綜合 |
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能夠隨時在 3.6 x 0.9 m 的占地面積上使用小角 X 射線散射研究納米材料(尺寸、形狀、內部結構、比表面等),無需等待昂貴的同步加速器檔期。優化您的射線時間并研究不穩定的樣品,避免運輸隱患。
安東帕精確且可靠的解決方案為 SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 納米結構材料的日常研究提供了出色的分辨率和的數據質量。強大的儀器系統使用了 X 射線以及無散射光束準直,并且配備了多種樣品臺以滿足多種不同應用。
緊湊型占地 3.6 m x 0.9 m
研究納米材料(例如尺寸、形狀、內部結構)
非破壞性測量技術
直接在原生生物環境中測量樣品
優化同步加速器的測量
SAXSpoint 5.0 是采用同步加速器探測器技術的 SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 實驗室光束線,可在緊湊型系統中實現更高分辨率。安東帕出色的 SAXS 系統,可解析高達 620 nm 的納米結構。SAXSpoint 5.0 能夠在室溫環境和非室溫環境條件下分析幾乎所有的材料,靈活性好。SAXSpoint 5.0 配備了許多附加的可選功能,適合可達微米范圍 (USAXS) 的潛在應用。通過功能強大的軟件包,可以自動進行操作和數據分析,輕松實現材料特性的無損研究。
SAXSpoint 5.0 采用高亮度 X 射線束,該射線束擁有高光譜純度和無散射光束準直。配備強大的微焦斑光源或 MetalJet X 射線源和高性能光學元件,可在更短的曝光時間內提供出色的測量結果。結合更新的混合光子計數 (HPC) 探測器,可確保獲得高質量的 SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 結果,以實現納米結構材料分析。通過這種出色的設置,可以實現更好的分辨率,并以同類產品中較緊湊的系統尺寸(3.6 x 0.9 m)解析高達 620 nm(USAXS 為不超過微米范圍)的結構。
SAXSpoint 5.0 具有移動探測器 Slidemaster,可在非常寬的 q 范圍內進行全自動 X 射線散射研究。一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數據,無需重新校準系統。只需移動探測器,即可為每次實驗選擇更好的 q 范圍,從高 SAXS 分辨率到寬 WAXS 范圍。
SAXSpoint 5.0 為您的測量提供自動光束選擇和定位。由于集成了更新的 EIGER2 R 探測器,因此可以進行無窗口和無光束遮擋測量。
自動完成日常測量工作,加快測量速度,而是 SAXSpoint 5.0 實驗室系統的標準性能。SAXSpoint 5.0 配備了 Stagemater,可以自動校準所有 X 射線部件和樣品臺,識別安裝的樣品臺,并相應地配置系統。這為您的測量設置提供更佳的可能結果。使用 低容量液體自動進樣器實現樣品通量自動化,最多可容納 192 個樣品,并配有溫控孔板隔室,用于在儲存期間冷卻和加熱樣品。
幾乎任何的納米結構材料都可以使用安東帕的各種樣品臺進行分析。使用 TrueFocus 可以輕松、快速地在不同的樣品臺之間切換,確保自動校準所有組件。
TCStage樣品臺裝置:在 -150 °C 到 600 °C 范圍內進行控溫研究
濕度樣品臺:在規定的相對濕度和溫度條件下進行分析
GISAXS/GIXD 樣品臺:納米結構表面和薄膜研究
加熱/冷卻多位樣品臺:利用溫控的多位臺進行自動研究
Tensile 樣品臺:在規定的機械載荷下,分析納米結構纖維
RheoSAXS 模塊:一次性進行完整的流變和納米結構研究
SAXS 數據分析很復雜。直觀的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 軟件解決方案是獲得結果的方法。支持自動執行常規程序步驟,如測量設置和校準,以及綜合數據分析。設置連續測量,利用自動進樣、溫度掃描和時間相關研究,并使用可定制的模板來分析 1D 和 2D 數據集。測定回轉半徑 (RG)、粒徑、Porod 常數、比表面積、Kratky 曲線等參數是 SAXSanalysis™ 的標準功能。
X 射線源 |
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X 射線光學元件和準直系統 |
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樣品臺和自動進樣器 |
根據需求提供的定制樣品臺 |
特殊功能 | Slidemaster:移動探測器(X、Y、Z 方向平移) |
溫度范圍 | -150 °C 至 +600 °C |
溫度準確度 | 0.1 °C |
氣氛 | 真空、空氣、惰性氣體、濕度(根據需求也可以是反應性氣體) |
樣品架 |
根據需求提供定制樣品臺,請聯系我們 |
探測器 | 2D EIGER2 R 和 PILATUS3 R 系列探測器 高分辨率 WAXS 模塊(EIGER2 R 系列) |
可達到的 q 范圍 | 0.01 nm-1 to 49.3 nm-1 (主探測器) |
軟件 |
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占地面積 |
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