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參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號Dimension IconIR
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間:2024-05-20 16:46:13瀏覽次數(shù):140次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)價格區(qū)間 | 面議 | 儀器類型 | 實(shí)驗(yàn)室型 |
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儀器種類 | 傅立葉變換型(FT) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
高性能、大樣品臺納米化學(xué)成像系統(tǒng)及紅外光譜系統(tǒng)Dimension IconIR
核心參數(shù)
儀器種類:激光紅外
儀器類型:實(shí)驗(yàn)室型
產(chǎn)地類別:進(jìn)口
波數(shù)范圍:800-3600 cm-1(可選)
分辨率:1 cm-1; 10 nm空間分辨率
掃描速度:1s/譜
波數(shù)準(zhǔn)確度: 1 cm-1
納米紅外功能和性能
Bruker公司推出的Dimension IconIR是一款集合了納米級紅外光譜(nanoIR)技術(shù)和掃描探針顯微鏡
(SPM)技術(shù)的系統(tǒng)。它整合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新和研究成果,可以在單一平臺上提供的納米級紅
外光譜、物理和化學(xué)性能表征。該系統(tǒng)具有超高的單分子層靈敏度和化學(xué)成像分辨率,在保留Dimension
Icon®最佳的AFM測量能力的同時,還提供了極大的樣品尺寸靈活性。
Dimension IconIR利用Bruker的PeakForce Tapping®納米級物性表征技術(shù)和的納米紅外光譜技術(shù),使得它能夠在納米尺度下對樣品進(jìn)行納米化學(xué)、納米電學(xué)和納米力學(xué)的關(guān)聯(lián)性表征。
只有Dimension IconIR具備:
與FTIR吻合的紅外光譜,優(yōu)于10 nm的空間分辨率和單分子層
靈敏度的高性能納米紅外光譜化學(xué)成像
可與Peakforce Tapping納米力學(xué)和納米電學(xué)屬性表征相關(guān)聯(lián)
高性能的AFM成像功能和極大的樣品尺寸靈活性
廣泛適用的應(yīng)用配件和AFM功能模式
技術(shù)保證真實(shí)的紅外吸收光譜
AFM-IR通過采集樣品的熱膨脹信號(PTIR)還原樣品的紅外吸收光譜。由于檢測區(qū)域的熱膨脹只與樣品在該波長下的吸收強(qiáng)度有關(guān),而常規(guī)的傅里葉紅外光譜(FTIR)檢測的也是樣品在該波長下的吸收強(qiáng)度,因此AFM-IR獲得的紅外吸收光譜與傳統(tǒng)的紅外吸收光譜高度吻合。
紅外吸收成像
除采集區(qū)域的紅外吸收光譜外,Dimension IconIR同時提供了固定紅外脈沖波長,檢測樣品表面某一區(qū)域在該波長下吸收強(qiáng)度的功能。在該工作模式下,Dimension IconIR會將紅外脈沖激光固定在研究者所選的波長,用AFM探針掃描需要檢測的表面,記錄探針針尖在每個位置檢測到的紅外吸收強(qiáng)度,并同時給出AFM形貌和該波長下的紅外吸收成像。
保護(hù)的接觸共振技術(shù)
保護(hù)的共振增強(qiáng)技術(shù)將測量靈敏度提高到單分子層級別,達(dá)到最高的光譜檢測靈敏度。因?yàn)榛谠恿ο到y(tǒng)的紅外技術(shù)是以探針來檢測樣品表面在紅外激光作用下的機(jī)械振動,隨著厚度的減小,這種位移量變得極其微小,超出了原子力顯微鏡的噪音極限。我們利用保護(hù)的可調(diào)頻激光優(yōu)化脈沖信號頻率,使之與探針和樣品的接觸共振頻率吻合,那么這種單諧振子共振模式就能把微弱信號放大兩個數(shù)量級。。
智能光路優(yōu)化調(diào)整,保證實(shí)驗(yàn)效率
紅外激光和AFM聯(lián)用系統(tǒng)的最大挑戰(zhàn)在于光路的優(yōu)化,為了得到最佳的信號,在實(shí)驗(yàn)過程中光斑中心應(yīng)該始終跟隨探針針尖位置并保持良好的聚焦。但是在調(diào)頻過程中,激光光束的發(fā)射角度會隨著波長的變化而改變,進(jìn)而改變光斑位置,聚焦?fàn)顟B(tài)也會變化。布魯克采用全自動軟件控制automatic beam steering和自動聚焦系統(tǒng)來修正光斑位置的偏移和聚焦,大大改善了傳統(tǒng)聯(lián)用系統(tǒng)需要手動調(diào)節(jié)的不便和低效率。同時全自動動態(tài)激光能量調(diào)整保證信號的穩(wěn)定性,避免紅外信號受激光不均勻功率的影響。
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