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注塑件內應力檢測儀
注塑件內應力檢測儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:17:15 對比

相位差雙折射測量內應力測量內應力測量儀
納米壓痕儀
納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結果通過力與壓入深度的曲線計算得出。包括高低溫環境、真空環境測試、粘彈性測量、彈性模量、水下測試等...
型號： ENT-5 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:15:41 對比

納米壓痕儀微納力學測試彈性模量測試納米力學測量微納硬度測量儀
白光共聚焦顯微鏡
Lasertec激光+白光共聚焦顯微鏡以雙共聚焦光學系為基礎，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設備才能完成的測...
型號： HYBRID 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:14:00 對比

激光共聚焦顯微鏡亞微米級膜厚檢測激光共聚焦顯微鏡 lasertec共聚焦顯微鏡白光共聚焦顯微鏡
微區取樣儀
微型取樣機械手是微小物體分析強有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時候待測位置難...
型號： Micro Sup... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:11:41 對比

微區取樣儀 Micro Support Axis pro
無掩膜光刻機
無掩膜光刻機UTA系列是將DLP投影儀盒金相顯微鏡相結合的縮小投影型無掩模曝光系統，其傳統系統（用于掩膜光刻的圖案投影曝光系統）可以使用專門為此目的開發的軟件來...
型號： UTA-IA 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:10:04 對比

顯微鏡LED曝光機 LED光刻機無掩膜光刻機無掩模led曝光機科研型光刻機
工業級皮秒激光器
隨著中國科技水平的提升，對材料的高精度加工需求越來越多，特別是對于脆，硬的藍寶石，3D玻璃等透明材料高精度加工要求，常規的光纖激光器，納秒固體激光器無法滿足要求...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:08:07 對比

皮秒激光器工業級皮秒激光器
激光測距激光雷達激光器
激光測距激光雷達激光器歐屹科技在激光測距和激光雷達方面具有多年經驗，歐屹科技自行研發的小型激光器廣泛應用從基于FoT技術的幾百米測距，到5公里，10公里，30...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:05:54 對比

激光器
半導體激光外延片
歐屹科技十余年來耕耘于半導體激光領域，與日本，英國，美國，德國等半導體激光芯片外延廠商合作，無論是單管激光芯片，半導體激光外延片m還是bars,stack芯片都...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:03:34 對比

半導體激光
單管半導體激光器
歐屹科技十余年來耕耘于半導體激光領域，與日本，英國，美國，德國等半導體激光廠商合作，可以為您提供日亞，歐司朗，相干，光譜物理，耶拿多個廠商的產品，單管半導體激光...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 14:01:13 對比

激光器
光纖耦合半導體激光器
歐屹科技十余年來耕耘于半導體激光領域，與日本，英國，美國，德國等半導體激光廠商合作，可以為您提供相干，耶拿，LIMO多個廠商的產品，光纖耦合半導體激光器，Bar...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:59:33 對比

半導體激光器
內應力測量儀PA-300-XL
內應力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:58:02 對比

相位差雙折射測量內應力測量內應力測量儀
雙折射測量儀PA-300-MT
雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:56:19 對比

相位差雙折射測量內應力測量
雙折射測量儀PA-Micro
雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單，不含旋轉光學濾片的機...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:54:24 對比

相位差雙折射測量內應力測量
online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage
online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版，可升級STS 。操作簡單，可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。記錄雙折射的數值數...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:52:37 對比

相位差雙折射測量內應力測量
在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM
在線型雙折射測量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產線上，實現各個環節的雙折射測量。 LIVE實時輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執行Live監測的同...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:50:13 對比

相位差雙折射測量內應力測量
online雙折射測量儀KAMAKIRI W
online雙折射測量儀KAMAKIRI W適用于薄膜等生產線上，實現各個環節的雙折射測量LIVE實時輸出雙折射的信息OK/NG可以在執行Live監測的同時對異...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:48:00 對比

相位差雙折射測量內應力測量
online雙折射測量儀
歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結合，研制在線...
型號： WPA-KAMAK... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:46:04 對比

相位差雙折射測量內應力測量
紅外應力雙折射測量系統
紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-...
型號： WPA-NIR 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:44:07 對比

雙折射測量儀應力雙折射儀應力分布測量儀紅外偏光應力儀光學薄膜雙折射測量儀
應力雙折射測量系統
應力雙折射測量系統WPA-200-MT是Z業用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片...
型號： WPA-200-M... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:42:14 對比

雙折射測量儀應力雙折射儀應力分布測量儀應力雙折射測量儀鏡頭應力雙折射系統
雙折射測量儀PA-300-L
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/3 13:39:53 對比

雙折射測量儀玻璃應力分布儀應力分布測量儀雙折射儀相位差測量儀

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