您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
ARL QUANT, X X射線熒光光譜儀
能量色散型X射線熒光光譜儀
提高元素分析的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)
X射線熒光光譜儀大氣顆粒物分析 • 金屬、貴金屬、合金 • 調(diào)查 • RoHS 和 WEEE 篩選石油 • 各種油品、過濾介質(zhì)、添加 劑和發(fā)動(dòng)機(jī)磨損金屬分析 • 食品安全 • 水泥、陶瓷、化肥 • 原料和替代燃料 • 冶金、礦渣及礦石 • 考古和文 物修復(fù)、寶石學(xué)、金屬飾品 • 聚合物、催化劑、半導(dǎo)體和磁性介質(zhì)材料 •
建立在豐富成功經(jīng)驗(yàn)的基礎(chǔ)上
X射線熒光光譜儀作為 EDXRF行業(yè)的參考標(biāo)準(zhǔn)，ARL QUANT'X 久負(fù)盛名。 自面世以來，ARL QUANT'X采用多種新技術(shù)來推動(dòng)EDXRF 性能提高及行業(yè)發(fā)展。ARL QUANT'X早推出了世界上Peltier電制冷Si(Li)探測(cè)器，該臺(tái)式EDXRF現(xiàn)已發(fā)展成為 一款多功能緊湊型高性能能譜。它的核心是一代硅漂移 探測(cè)器 (SDD)，耦合到快速 CMOS ASIC 前置放大器，兼具 高計(jì)數(shù)率和高分辨率特性。較大的探測(cè)器晶體區(qū)域可確保 大的立體角，從而限度捕獲由樣品產(chǎn)生的 X 射線。 即 使在分析小樣品或使用低至 1 mm 的準(zhǔn)直器面罩時(shí)，50 瓦 特的大功率 X 射線管也能實(shí)現(xiàn)有效激發(fā)。通過9個(gè)濾光片組 合，可以輕松找到激發(fā)條件。 ARL QUANT'X 支持在空 氣、氦氣和真空中進(jìn)行分析，從而確保各類樣品（無論液體、松散粉末或固體）均可實(shí)現(xiàn)輕元素分析。
提高性能
X射線熒光光譜儀與上一代產(chǎn)品相比，新型 ARL QUANT'X 結(jié)合了改進(jìn)的電 子器件、全新的探測(cè)器、增強(qiáng)的 X 射線管以及優(yōu)化的幾何結(jié) 構(gòu)，從而提高了靈敏度。如果要測(cè)定微量元素，除了需要提 升靈敏度之外，光譜純度也同樣重要。 ARL QUANT'X 經(jīng) 過精心設(shè)計(jì)，可消除探測(cè)器電子器件、分析室、光學(xué)器件和 X 射線管產(chǎn)生的所有雜散干擾。 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀通常以高于 200 Kcps 的 輸入計(jì)數(shù)率運(yùn)行，同時(shí)在 Mn Kα 條件下保持優(yōu)于 140 eV FWHM 的典型分辨率在較短測(cè)量時(shí)間下依然可以獲得高計(jì) 數(shù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，從而獲得比上一代產(chǎn)品更加準(zhǔn)確的分析結(jié)果。
除提升性能外，ARL QUANT'X 還具有體積小的優(yōu)勢(shì)，適用 于任何實(shí)驗(yàn)室。只需要一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電源插座和氦氣（當(dāng)需要該 氣體時(shí)）即可使用。 在儀器接通電源幾分鐘后，Peltier 冷卻 SDD 即可運(yùn)行，儀器即進(jìn)入工作狀態(tài)，關(guān)機(jī)無需等待。
安全至上
使用 X 射線時(shí)，安全至關(guān)重要。在 ARL QUANT' X 上，通 過基于互鎖的自動(dòng)防故障電路設(shè)計(jì)和在 X 射線打開時(shí)顯示 的清晰警告標(biāo)志來保證安全。在各次測(cè)量之間以及當(dāng)室蓋 打開時(shí)，X 射線管會(huì)*關(guān)閉，從而進(jìn)一步增強(qiáng)操作員的安 全。ARL QUANT' X 符合嚴(yán)格的安全規(guī)則與規(guī)范。
增強(qiáng)型分析軟件
X射線熒光光譜儀的 WinTrace 分析軟件在 Windows 10 下運(yùn)行，基于多 年完善的研究實(shí)踐和豐富經(jīng)驗(yàn)的*算法，讓EDXRF分析 變得更加靈活。該軟件可針對(duì)任何樣品中任何數(shù)量的分析物 收集和處理多達(dá) 9 個(gè)濾光后的光譜。分析程序具有多種算 法，可校準(zhǔn)所需任意數(shù)量的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品（一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)品即能進(jìn) 行校準(zhǔn)）。收集光譜后，可隨時(shí)重新處理和脫機(jī)計(jì)算光譜。自 動(dòng)化 X 射線功率調(diào)節(jié)功能可保證所有樣品（無論是空氣濾 膜、礦渣、金屬、石油、巖石）都通過其*的設(shè)置進(jìn)行 分析。
簡(jiǎn)單且用戶友好的界面
X射線熒光光譜儀在數(shù)字世界中，如果沒有可以充分發(fā) 揮其功能的靈活軟件，它也會(huì)受到限制。Method Explorer（ 方法管理器）界面為高級(jí)用戶提供每個(gè)參數(shù)的訪問權(quán)限，允 許他們?cè)谌魏螒?yīng)用中針對(duì)關(guān)注元素選擇測(cè)試通量、或 者靈敏度的分析條件。只需單擊元素周期表，即可添加 或刪除分析元素。使用樹形界面方便查看校準(zhǔn)和分析結(jié)果。 通過已有方法文件可快速建立自己的方法。使用標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù) 可集中管理參考物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣品的所有數(shù)據(jù)。
雖然全面控制和微調(diào)功能對(duì)于光譜儀十分重要，但是速度和 易用性在行業(yè)環(huán)境中關(guān)鍵。WinTrace 允許使用預(yù)先加
載的目標(biāo)方法設(shè)置快捷方式。操作員只需輸入樣品名稱，然 后單擊即可進(jìn)行測(cè)量。在測(cè)量后，光譜圖和分析結(jié)果將自動(dòng) 保存到方法中。用戶可方便地將所有分析數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在一個(gè)位 置。
光譜計(jì)算
X射線熒光光譜儀對(duì)于任何定量分析，關(guān)鍵步驟是從光譜中準(zhǔn)確提取峰 值強(qiáng)度。高級(jí)去卷積算法允許從包含許多元素分析線的復(fù)雜 光譜中正確提取凈峰值強(qiáng)度。并能自動(dòng)處理逃逸峰及和峰。 預(yù)定義的設(shè)置適用于大多數(shù)應(yīng)用，并且可以輕松進(jìn)行自定 義，以應(yīng)對(duì)困難的情況。
元素分析和鍍層分析
X射線熒光光譜儀WinTace 軟件提供一系列分析算法，可處理任何類型的樣 品，無論樣品是固體、粉末還是涂層。如果分析的元素?cái)?shù)量 有限并且有足夠可用的標(biāo)準(zhǔn)品，經(jīng)驗(yàn)算法即得到出色的結(jié)果 基本參數(shù) (FP) 算法可用于任意數(shù)量的元素、標(biāo)準(zhǔn)品和激發(fā) 條件的校正。FP厚度分析模塊多可測(cè)量六層（包含任意數(shù) 量的元素）的厚度、質(zhì)量和組成。也可以脫機(jī)重新計(jì)算所有 等式，從而輕松實(shí)現(xiàn)方法優(yōu)化。
受密碼控制的訪問級(jí)別
校準(zhǔn)方法具有密碼保護(hù)選項(xiàng)，防止操作員在使用該方法時(shí)意 外更改校準(zhǔn)參數(shù)或有用數(shù)據(jù)。WinTrace 還提供不同的用戶 級(jí)別權(quán)限，入門級(jí)模式允許用戶在短時(shí)間培訓(xùn)下能夠快速完 成樣品分析，而高級(jí)模式則允許用戶管理員*控制儀器及 其校準(zhǔn)參數(shù)。
數(shù)據(jù)傳輸
X射線熒光光譜儀通過可選的 TRACEcom 軟件包，WinTrace 可輕松與 LIMS 交互，從而支持以用戶可選格式共享分析數(shù)據(jù)。該功能有助 于將 ARL QUANT' X EDXRF 光譜儀集成到自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)室
中。
多語言
X射線熒光光譜儀使用已翻譯成您本國(guó)語言的軟件時(shí)，總會(huì)感到更加簡(jiǎn)單。 現(xiàn) 在，可按多種內(nèi)置語言配置用于 ARL QUANT'X EDXRF 的 WinTrace。
高級(jí)無標(biāo)樣分析技術(shù)
賽默飛世爾科技公司的綜合性半定量無標(biāo)樣分析方法稱為 UniQuant，它利用所有過濾片和預(yù)設(shè)激發(fā)條件設(shè)置對(duì)氟到 鈾的所有元素實(shí)現(xiàn)測(cè)量。并且可在無用戶干預(yù)或優(yōu)化
的情況下生成任何未知樣品的曲線。樣品的完整光譜曲 線使UniQuant 能夠?qū)λ锌赡艿闹丿B和背景效應(yīng)自動(dòng)進(jìn)行校正，而這在能量色散光譜的定量分析中尤為復(fù)雜。
• 分析所有元素
• 在計(jì)算中包括每個(gè)樣品的*物理性質(zhì)，即面積、高度和 質(zhì)量
• 空氣或氦氣以及樣品杯膜吸收和雜質(zhì)均得到校正
• 使用漂移校正樣品對(duì)X射線管的長(zhǎng)期穩(wěn)定性進(jìn)行監(jiān)控
• 多種可選擇的報(bào)告級(jí)別和格式可為各類用戶提供清晰結(jié)果
多功能樣品室
批量分析樣品，提高生產(chǎn)效率，并通過大樣品室和多種送樣 選配裝置擴(kuò)展EDXRF的分析通量。模塊化儀器設(shè)計(jì)允許在 應(yīng)用發(fā)生更改時(shí)輕松添加或刪除任何樣品處理選項(xiàng)。
自動(dòng)進(jìn)樣器有助于提高生產(chǎn)效率
自動(dòng)化的 10 位和 20 位樣品轉(zhuǎn)盤可批量分析標(biāo)準(zhǔn)的液體樣 品杯、粉末壓片、氣溶膠和濾膜。 支持外徑為 31 mm 的樣品 杯，以及大外徑為 51.5 mm 的鋼環(huán)。
氣體選擇
得益于樣品和探測(cè)器之間的緊密耦合，即使是在空氣條件 下。仍可檢測(cè)輕元素。真空有助于提高固體中輕元素的靈敏 度，而氦氣環(huán)境則適用于液體樣品。 惰性氣體可用于腐蝕性 材料或不穩(wěn)定的材料的分析，考慮這種情況，我們?cè)跇悠贩?nbsp;析室使用了耐化學(xué)腐蝕材料。
適用于大型樣品
單樣品托盤和大樣品臺(tái)可接受異形、較大且不規(guī)則的樣品， 大尺寸分析室足夠容納這類樣品。
分析室擴(kuò)展
對(duì)于體積超大的樣品，例如氣缸體、防塵罩、渦輪碎片、汽車 零部件以及高達(dá) 36 cm（14.2 英寸）的任何樣品，也可以通 過可選的分析室擴(kuò)展進(jìn)行分析，而無需額外的工作或準(zhǔn)備。
1位和10位樣品轉(zhuǎn)換器可配備樣品旋轉(zhuǎn)器，以進(jìn)一步降低分 析誤差。在分析輕元素時(shí)，樣品旋轉(zhuǎn)尤其重要，對(duì)于這些元 素，將從樣品表面的幾個(gè)原子層生成X射線信息。
分析小樣品或小于1mm的小斑點(diǎn)
可以在15mm至1mm的范圍內(nèi)調(diào)整光束尺寸，以便進(jìn)行快速 篩選，方便研究和調(diào)查工作。 這適用于分析較小樣品或較 大樣品的特定區(qū)域或斑點(diǎn)
在分析過程中觀察樣品
通過用于樣品成像的 CCD 相機(jī)和可調(diào)節(jié)的 X 射線束直 徑，ARL QUANT'X 允許您選擇需要分析的樣品部位，從而 將XRF光譜儀“體相分析”的高靈敏特點(diǎn)與“微觀”采樣靈活
性完美結(jié)合。