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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源 |
產品簡介
詳細介紹
1. XOS 公司介紹：
◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學系統公司) 總部位于美國紐約州*Albany, 為丹納赫水質平臺子公司。
◆ XOS®是一家應用材料和元素分析設備供應商，為重視控制材料質量與性能的行業監管部門和客戶提供擁有技術的分析設備。
◆ XOS公司擁有研發和設計能力，與美國的眾多研究機構有合作關系，曾經參與了許多設計，包括美國宇航局的行星元素探測計劃（XRF方法）等。
◆ XOS擁有X射線光學技術，能夠幫助客戶將測量靈敏性，減少測量時間，空間分辨率，縮小設備尺寸，并且節約設備成本。
◆ XOS公司的光學晶體應用于波長色散型XRF、微區聚焦XRF、掃描電鏡等X射線儀器。XOS公司與其他著名的XRF生產廠商都有合作，提供給它們必需的光學聚焦晶體。
◆ XOS公司在元素分析有著技術應用，XOS公司與美國NASA下屬的JPL實驗室合作，研發了一款2020計劃的XRF元素分析儀
2. 主要技術參數和優點：
1) 采用DCC®（雙曲面彎晶技術），取代傳統的濾光片和準直器，真正實現單色光激發樣品；
2) 檢測光斑1mm，適合測試不規則樣品和細小樣品；
3) 采用SDD硅漂移探測器，分辨率高，無需液氮冷卻；
4) 滿足美國ASTM F2853標準；
5) 可同時測試涂層與基材中的重金屬含量；
6) 采用基本參數法，可分析各類未知樣品；等等
美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀
用于玩具和兒童用品
HD Prime用XOS*的光譜技術，測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素，可測量出微量成份。HD Prime分析儀采用光學分析技術，可分別測出產品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術可測量目前和將來由CPSIA規定的含量。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測，又能定量分析。測量是非破壞性的，不需要費錢耗時的樣品準備，而且不會損壞被測商品，已備復查。光譜儀使負責產品安全的行業和政府管理部門能夠快速、方便地檢測產品。
檢測鉛和其它有毒元素
應用領域
•玩具和兒童用品中多種有毒元素測量，符合CPSIA規定的要求
•定性定量分析有毒元素
•使用場合:工廠的生長線上和實驗室、第三方檢測實驗室、零售商、檢測部門
•符合ASTM F2853和F2617標準
性能和特點
•測定有毒元素（Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，and CI)
•HD Prime 可分別測出產品基材和涂層中有毒元素的成份
•1mm小面積分析，能檢測不規則形狀
•使用方便，可供工廠、實驗室使用，2小時培訓
•不需要樣品準備：無須剝離和浸煮涂層，從而不破壞產品結構
•定性檢測模式：提供有毒元素快速檢測
•定量檢測模式：確定涂層和基底材料中元素成份
產品規格 | 元素 | Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，Cl |
分析范圍 | 小于5000ppm | |
分析模型 | 定性模式：快速檢測元素的存在 定量模式：確定元素成份 | |
一次測量可同時得到涂層和基底中的元素成份并分別記錄 | ||
定性測量時間只測基底 | 塑料，木頭，橡膠，皮革，織物，濕涂料未~2min 金屬為~3min | |
定量測量時間涂層 | ~5min | |
測量面積 | 直徑1mm | |
環境溫度 | 5-35°C | |
相對濕度 | 80%max | |
功率要求 | 90~264VAC,47~63Hz | |
光管電壓 | 50kVmax | |
系統功耗 | 200W max | |
結構 | 分析儀尺寸 | H:812mm.W:914mm. D:660mm（32”×36”×26”） |
樣品室尺寸 | H:560mm.W:851mm. D:582mm （22”×33.5”×23”） | |
分析儀重量 | 110kg（240Ibs） | |
數據輸出 | 硬盤存儲 為LIMS連接USB輸出接口 | |
攝像頭 | 一個攝像頭：樣品的大視角成像 另一攝像頭：分析面積的近視角成像 | |
操作 系統 | 視窗系統 | |
探測面積選擇 | 激光對中 | |
用戶界面 | 材料選擇 | 塑料，金屬，木頭，玻璃，橡膠，皮革，織物 |
量化：測試結果 | 基底中的成份單位是ppm(wt），用顏色塊表示是否通過涂層中成份單位是ppm（wt）和ug/cm2 ，用顏色塊表示是否通過 包含光譜分析 | |
定性：測試結果 | 顏色塊表示是否通過 | |
用戶輸入操作員名字和樣品細節 | 用戶，樣品定義和描述 | |
數碼成像 | 每次測量都儲存樣品和被測面積的圖像 | |
校準 | 自動校準程序 |