18068309380
當前位置：無錫駿展儀器有限責任公司>>Fischer菲希爾代理>>菲希爾x射線測厚儀>> 貴金屬鍍層厚度測量
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,生物產業,石油,制藥,綜合 |
FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。它是從大眾認可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了 Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。可測量的元素范圍從氯 (17)到鈾(92)
XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器
XDL系列儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控
Fischer X射線測厚儀典型的應用領域有:
測量大規模生產的電鍍部件
測量薄鍍層，例如裝飾鉻
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層全自動測量，如測量印刷線路板
分析電鍍溶液
貴金屬鍍層厚度測量
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
化工儀器網