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EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀 詳細摘要： EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻，最大可達300×300平方毫米（12×...
產品型號： 所在地：杭州市 更新時間：2024-06-08 參考價： 面議 在線留言 -
EddyCus map C2C全自動電阻率成像系統 詳細摘要： EddyCus map C2C全自動電阻率成像系統用于晶圓襯底或外延片的全面積表征，以確保半導體行業的工藝可靠性和質量保證。該系統配備了兩個在傳輸模式下工作的非...
產品型號： 所在地：杭州市 更新時間：2024-06-08 參考價： 面議 在線留言 -
EddyCus TF lab 2020電阻率測量儀 詳細摘要： EddyCusTF lab 2020電阻率測量儀可以對導電薄膜進行手動單點測量，并以非接觸模式對薄金屬層進行層厚測量。這個緊湊的臺式設備是快速和準確測量200 ...
產品型號： 所在地：杭州市 更新時間：2023-05-30 參考價： 面議 在線留言 -
Radiant PiezoMEMS薄膜壓電分析儀 詳細摘要： Radiant PiezoMEMS薄膜壓電分析儀將數字、模擬和通信電路功能與已有的精密Multiferroic非線性材料測試儀相結合，所有這些功能都由Radia...
產品型號： 所在地：杭州市 更新時間：2023-05-29 參考價： 面議 在線留言 -
四探針面電阻測量儀SD-800 詳細摘要： 四探針面電阻測量儀SD-800采用四探針接觸式原理，用于測量導電膜層的面電阻，探針直徑大，針頭光滑，能伸縮，不易 劃傷膜層。儀器有多個量程范圍可自動選擇，以Oh...
產品型號： 所在地：杭州市 更新時間：2022-11-25 參考價： 面議 在線留言 -
非接觸式面電阻測試儀Statometer G 詳細摘要： 非接觸式面電阻測試儀Statometer G采用感應式測量原理，無探針接觸導電膜層，既可測量表面導電也可測量表面不導電的導電玻璃和導電膜層，是目前Low-E鍍膜...
產品型號： 所在地：杭州市 更新時間：2022-11-25 參考價： 面議 在線留言