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BeNano Zeta電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系Zeta電位的光學檢測系統。BeNano Zeta 系統基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個電場，通過激光照射到電場中的樣品上，光電檢測器在12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移，進而得到體系的 Zeta 電位信息。
| Zeta電位測試 | 技術 | 相位分析光散射 |
| 檢測角度 | 12° | |
| Zeta范圍 | 無實際限制 | |
| 電泳遷移率范圍 | >±20um.cm/v.s | |
| 電導率范圍 | 0-260mS/cm | |
| 最小樣品量 | 0.75mL-1.0mL | |
| Zeta測試粒徑范圍 | 2nm-110μm | |
| 系統參數 | 溫控范圍 | -10°C-110°C，精度±0.1°C |
| 激光光源 | 50mW高性能固體激光器，671nm | |
| 相關器 | 最多4000通道，1011動態線性 | |
| 檢測器 | APD，高性能雪崩光電二極管 | |
| 光強控制 | 0.0001%-100%，手動或自動 | |
| ★取決于樣品和選件 | ||
Zeta電位
Zeta電位分布
電泳光散射
相位分析光散射
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