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Zeta電位怎么測(cè)?依據(jù)什么原理?
現(xiàn)在市面上有很多種技術(shù)都可以實(shí)現(xiàn)電位測(cè)試,比如動(dòng)態(tài)圖像電泳法、超聲波電泳技術(shù)等,但相對(duì)最為成熟的方法還是電泳光散射技術(shù),其主要測(cè)試原理如下:
我們知道,對(duì)于一個(gè)帶電的顆粒,如果我們將其置于一個(gè)已知強(qiáng)度的電場(chǎng)中,由于電場(chǎng)力的存在,帶電粒子就會(huì)在電場(chǎng)中進(jìn)行電泳運(yùn)動(dòng),其中正電荷往負(fù)極走,負(fù)電荷往正極走。根據(jù)Henry方程,在單位電場(chǎng)條件下,顆粒的電泳遷移率將會(huì)直接正比于顆粒的Zeta電位。換句話說(shuō),只要能夠準(zhǔn)確測(cè)量帶電粒子在電場(chǎng)中移動(dòng)的速度,就可以通過(guò)Henry方程得到顆粒的Zeta電位。但對(duì)于微觀顆粒其尺寸非常小,移動(dòng)速度又相對(duì)較慢,因此常規(guī)的測(cè)試方法要想準(zhǔn)確測(cè)得顆粒的移動(dòng)速度將會(huì)面臨較大挑戰(zhàn),而電泳+光散射的方式,則恰恰可以較好地解決這個(gè)問(wèn)題。根據(jù)光學(xué)多普勒效應(yīng),一束光照射到一個(gè)移動(dòng)的物體上,散射光的頻率將會(huì)發(fā)生變化,物體移動(dòng)越快,則反射波頻率變化越大,通過(guò)測(cè)量散射光頻率的變化,即可得到顆粒的移動(dòng)速度,從而計(jì)算出顆粒的Zeta電位。
Zeta電位測(cè)量技術(shù)已經(jīng)被廣泛的應(yīng)用于工業(yè)和科研各個(gè)領(lǐng)域,比如陶瓷生產(chǎn)領(lǐng)域,我們需要測(cè)量陶瓷漿料的Zeta電位來(lái)考察漿料的存儲(chǔ)穩(wěn)定性;在生物制藥領(lǐng)域,我們需要測(cè)試蛋白溶液的Zeta電位以盡量避免蛋白大分子的團(tuán)聚;而在水處理領(lǐng)域則恰恰相反,需要加絮凝劑并將其電位調(diào)節(jié)到等電點(diǎn)附近,從而讓其變得更容易絮凝沉淀以便去除水中的顆粒雜質(zhì)。