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詳細介紹
SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機
SPECIM 位于芬蘭的奧盧，是世界上早提供商用高光譜分光器的制造商，至今已有二十余年高光譜產品生產歷史，其產品質量和銷量也是的。產品范圍分布比較廣泛，包含工業高光譜相機、實驗室高光譜成像系統以及機載高光譜遙感系統，產品涵蓋VNIR、NIR、SWIR、MWIR和LWIR各個波段，為用戶提供全面的高光譜成像解決方法，這些產品滿足了工業客戶、系統集成、科學和研究客戶不同的需求。
SPECIM中波紅外MWIR高光譜相機，光譜范圍為2.7 – 5.3um，具有640像素的高空間分辨率，可快速、可靠地識別和分類難降解黑色塑料，分析碳氫化合物和礦物，檢測金屬表面的污染。
技術參數：
型號 | FX50 |
光譜范圍 | 2.7 - 5.3 μm |
光譜采樣/pixel | 8.44 nm |
光譜波段 | 154 |
光譜分辨率(FWHM) | 35 nm |
空間像素數 | 640 |
像素大小 | 30 μm |
大幀速 | 380 fps |
FOV | 24 °, 45 °, 60 ° |
探測器 | InSb |
動態范圍 | 1600:1 with 1.5 ms exposure time |
相機控制接口 | GigE Vision, Custom ethernet |
電源輸入 | 24 V DC |
功耗 | Max 90 W; Typical 40 W |
尺寸 (L x W x H) | 280 x 202 x 169 mm |
重量 | 7 kg |
存儲溫度 | -20—+50 ℃ |
工作溫度 | +5 —+40 ℃ |
產品特點：
•光譜范圍為2.7 – 5.3um
•640像素的高空間分辨率
•380 Hz的高成像速度
•溫度穩定的光學元件
•內置圖像校正
•GigE Vision標準界面
•易于安裝到工業環境
•可快速、可靠地識別和分類難降解黑色塑料，分析碳氫化合物和礦物，檢測金屬表面的污染。
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