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美國磁通I 磁粉探傷試片

I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于：將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率；確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度；平衡多向磁場(chǎng)。
標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷成基園和十字交叉條形，用于縱向和軸向磁場(chǎng)。
 型號(hào)：KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸。

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相關(guān)產(chǎn)品：ZL-60D熒光滲透探傷劑，ZL-37后乳化熒光滲透劑，ZL-27A后乳化熒光滲透劑，ZL-56水洗式熒光滲透劑，SKD系列著色滲透探傷劑，ZP-4B干粉顯像劑，14A熒光磁粉，ZB100F熒光探傷燈，Y-1/Y-7/Y-8磁軛探傷儀，A型磁粉探傷試塊試片，油機(jī)載液。美國磁通I 磁粉探傷試片。