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篤摯儀器(上海)有限公司
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勵磁電流產生高頻磁場,該磁場在材料(鍍層或基材)中感生渦流。
應用鍍層材料和底層材料中渦流的形態不同進行鍍層厚度測量。
利用對材料電導率的函數關系,可以測量導電性。
勵磁電流與測量信號之間的相位改變量 φ 轉變成鍍層厚度值,或各自的電導率值。
在由探頭決定的一定范圍內,讀數與探頭和鍍層表面的距離無關-非接觸測量
渦流相位法原理:
勵磁電流產生高頻磁場,該磁場在材料(鍍層或基材)中感生渦流。
應用鍍層材料和底層材料中渦流的形態不同進行鍍層厚度測量。
利用對材料電導率的函數關系,可以測量導電性。
勵磁電流與測量信號之間的相位改變量 φ 轉變成鍍層厚度值,或各自的電導率值。
在由探頭決定的一定范圍內,讀數與探頭和鍍層表面的距離無關-非接觸測量
使用針對特定測量任務進行了優化的探針,PHASCOPE®PMP10特別適用于以下幾種:
- 測量鋼上鎳的鍍層厚度
- 測量鋼上的鋅或銅 - 盡管表面粗糙,表面幾何復雜
- 測量有色金屬上有色金屬的厚度,給出足夠的導電性差異,例如 黃銅或青銅上的銅
- 測量絕緣基板上有色金屬的厚度,如電路板上的銅層。
探頭選擇
探頭型號 | 量程 | 應用 |
ESL080B | 5-100 um | 測量PCB通孔直徑范圍0.8–2mm的銅的厚度 |
ESL080V | 5-100 um | 測量PCB通孔直徑上銅的厚度,尤其是厚的PC板 |
ESD20Cu | 1 -270 um | 測量PC板上銅的厚度 |
ESD20Zn | 1-200 um (Cu/Fe) 2-200 um (Zn/Fe | 低導電率基體上的高導電率涂層,如銅/黃銅 低導電率基體上的高導電率涂層,如銅/黃銅
|
ESD20Ni | 2-100 um Ni/Fe (60 kHz) Or 1-50 um Ni/Fe (240 kHz) | 粗糙表面或保護漆表面,鐵或鐵磁鋼上鎳層的測量。 |
ESD2.4 | 1-150 um | 低導電率基體上的高導電率涂層,如銅/黃銅。 特別適用于小型傳感器上的零部件 |
特點:
- 手持式儀器,根據相位敏感電渦流法快速、準確地測量鍍層厚度,符合 DIN EN ISO 21968 標準
- 可測量印刷電路板上的銅厚度(頻率為60 kHz 或 240 kHz 的探頭 ESD20Cu)
- 可測量印刷電路板中孔銅厚度(探頭 ESL080)
- 可測量鐵、非鐵金屬或非導電部件上金屬涂層的厚度
- 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter®具有以下功能:傳輸和保存測量值,全面的統計和圖形化評估,簡便生成并打印個人檢測報告
典型應用領域:
- 測量鋼鐵上的鋅、銅或鋁鍍層(適合粗糙表面的探頭ESD20Zn)
- 鋼制小部件上的鋅鍍層(用于較小測量面積的探頭 ESD2.4)
- 鋼鐵上的電鍍鎳層(探頭ESD20Ni,頻率 60 KHz 或 240 kHz)