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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
EA8000日立X射線熒光分析儀規(guī)格參數(shù)：
| 測量元素 | 原子序號Mg（12)～U（92) |
|---|---|
| 樣品形狀 | 粉體、固體 |
| X射線源 | 水冷室X射線管球（透射X射線） |
| 管電壓：15、17.5、20 kV（透射X射線）、45 kV（熒光X射線） | |
| 管電流：1～35 mA（透射X射線）、900 µA（熒光X射線） | |
| X射線照射方向 | 下方照射型（透射X射線） 上方照射型（熒光X射線） |
| 檢測器 | 面型圖象傳感器（透射X射線） Vortex（熒光X射線） |
| 分析區(qū)域 | 30 mmΦ（透射X射線） |
| 樣品觀察 | 高分辨率CCD攝像頭 |
| 濾波器 | 4種模式自動切換（熒光X射線） |
| zui大樣品尺寸 | 250(W)×200(D)×0～50(H) mm |
| 儀器尺寸 | 1380(W)×1042(D)×1785(H) mm |
| 重量 | 660 kg |
| 電源/額定功率 | AC200～240 V(50～60Hz)/1500 VA |
EA8000X日立X射線熒光分析儀特點：
1. 可在幾分鐘內(nèi)對250×200 mm的樣品檢測出20 µm的金屬異物
例如要檢測250×200 mm（約B5尺寸）的電池電極板中20 µm的金屬異物，以往的X射線透視檢查儀需要十小時左右的攝像時間。株式會社日立*科學(xué)通過新型X射線透視方法的開發(fā)，成功縮短了時間。檢測速度成功達到了以往的100倍以上，可在3～10分鐘內(nèi)完成
2. 通過圖像處理自動檢測出異物
針對快速拍攝的250×200 mm的X射線投射圖的整面進行快速圖像處理，自動檢測出異物點。
3. 對于檢測出的異物點進行自動元素分析
日立EA8000X射線熒光分析儀只針對自動檢測出的 異物點進行X射線熒光掃描，自動分析元素。
4. 電極板中的微小金屬元素也可進行元素識別
對于樣品中檢測出來的金屬異物，自動通過X射線熒光法進行元素識別。例如，以往在檢測電極板中可能存在的20 µm左右的微小金屬異物，只能分析存在于樣品表面的異物。這是由于存在于內(nèi)部時，由異物產(chǎn)生的熒光X射線會被基材所吸收，信號強度非常微弱。EA8000通過獨自研發(fā)的高能量X射線光學(xué)系統(tǒng)，可對電極、有機薄膜內(nèi)部所含的20 µm大小的微小金屬異物進行元素分析。
5. 一體化操作，提高工作效率
與以往的技術(shù)相比，金屬異物的檢測速度、元素分析速度大幅提高，并且把顯微鏡等都組合在一臺儀器內(nèi)，各個系統(tǒng)聯(lián)動可全自動輸出測量結(jié)果。因此，操作人員只需放置好樣品，即可獲得測量結(jié)果，大大提升了作業(yè)效率。
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