島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7200：能量色散X射線熒光光譜篩選測試電子電氣產品中鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、總鉻（Cr）和總溴（Br）等元素的儀器、人員技術能力、測試程序、質量控制、文檔記錄等要求

島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7200追求高速·高靈敏度·高精度

新型能量色散X射線熒光光譜儀

EDX-7200

ü無損分析，保持固體/粉末/液體原始狀態 

ü寬廣的元素定量濃度范圍 (Na-U/ppm-%) 

ü可進行無標樣定量

更高靈敏度———檢出下限最大提高6倍————

l顯著提升金屬中微量元素的分析效果 

l銅合金、焊錫、鋁合金中的檢測下限相比于以往機型大幅降低

更高速———處理能力最大提高30倍 ————

l無鉛錫焊分析案例

新功能———磷(P)的篩選分析————

l應對美國TSCA對磷的管控要求

l選配真空附件可進一步提高P的靈敏度

l同時新增錫(Sn)篩選分析套件(含標樣)

島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7200新升級———降低分析成本————

l閾值算法優化，有效減少法規相關(如RoHS)分析時間  

l氦氣置換系統升級，降低氦氣消耗量 

l新增防潮X射線光管，有效提高高濕度地區光管使用壽命

           

FP法

根據理論計算而得出X射線強度的定量方法。對于難 以找到標準樣品對應的未知樣品，FP法是有效的定量 分析方法。

配置自動設定平衡功能
樣品主要成分為C,H,O等時，FP法需要進行平衡（殘 余成分）設定。如根據特征形狀判定需要平衡設定時， 軟件將自動進行。
 

背景FP法

背景FP法指在僅計算X射線熒光（凈峰）強度的傳統FP法基 礎上，增加計算散射X射線（背景）強度的方法。（日本 ：「特許」No.5975181）
在提升少量有機物樣品的定量準確度、異型鍍層樣品的膜厚 測定、有機膜的膜厚測定方面。

薄膜FP法

標配薄膜FP法?？蓹z測多層膜的膜厚,同時對膜的組成進行 定量分析。薄膜FP法可對基板等基材、鍍層結果、元素信息 進行設定。

匹配功能

匹配功能是指將某種樣品的分析結果與所保存的譜庫 比較，按由高到低的順序自動排列出接近的物質。
譜庫分為含量數據和強度數據兩類，用戶均可登錄。 同時，含量數據更可手動直接錄入。

為了使X射線熒光分析貼近每一個實驗室，深入淺出的軟件PCEDX Navi應運而生。 僅憑直覺即可操作的簡潔界面，無論是初學者還是專家，都可以體驗到便捷的操作環境。

簡潔的界面
在一個界面內可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。

在測定界面上可以直接切換準直器
可以一邊觀察樣品圖像,一邊切換準直器直徑。 同時,選定的直徑用黃色圓圈表示。

自動保存樣品圖像
測定開始時自動讀取樣品圖像，與數據文件夾關聯保存。