在購買手持式XRF分析儀時，確定需要硅漂移探測器（SDD）還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一。
奧林巴斯Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀就配備了兩種不同的探測器：Vanta Element分析儀裝配有PIN探測器，而Vanta Element-S分析儀裝配有SDD探測器。
SDD對比PIN：它們之間有什么差別？
硅漂移檢測器（SDD）是一種較新的技術，其每秒鐘的X射線計數(shù)率比PIN探測器大約多10倍。SDD探測器的分辨率也比PIN探測器大約低40 eV。不過，伴隨著SDD性能的提高是成本的增加。
在確定哪種探測器更適合您的時候，您需要考慮打算如何使用XRF分析儀。在此要問您兩個重要的問題：
1、您是否需要測量一些輕元素，如：鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、鉀（K）或鈣（Ca）?
這些較輕元素的定量性檢測只能由裝配有SDD探測器的分析儀完成。許多人因此錯誤地認為不能使用裝配了PIN探測器的分析儀對鋁合金進行分揀。但是，配備了PIN探測器的分析儀可以基于較重元素（如：銅、鉻或鐵）的含量對許多鋁合金的牌號進行分揀。當然要進行更細微的區(qū)分，如：鎂含量不同的6061鋁和6063鋁，需要使用配備了SDD探測器的分析儀。
2、您是否需要較低的檢出限？
SDD探測器的檢出限（LOD）通常比PIN探測器低約3倍。SDD探測器也比PIN探測器的計數(shù)率高，因此具有更高的精密度和靈敏度。
我們希望上面的問題已經幫助您確定了使用哪種探測器，這意味著您向購買一款合適分析儀的目標又邁近了一步。
如果您需要SDD探測器，那么您可能需要詳細了解我們的Vanta Element-S手持式XRF分析儀，這款價格實惠的分析儀可以探測輕元素，并對合金進行辨別。
這款分析儀可以在幾秒鐘之內快速、準確地辨別鎂（Mg）、鋁（Al）和硅（Si）元素。分析儀的SDD探測器還可以區(qū)分相似的牌號，如：303和304不銹鋼，6061和1100鋁，以及6063和1100鋁。這款分析儀可以有效地測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量，是完成廢料回收、基本PMI（材料成分辨別）、金屬制造和貴金屬識別等應用的理想工具。
Vanta Element-S分析儀
如果您需要PIN探測器，那么請您仔細了解一下我們的初級Vanta Element分析儀，這款價格實惠的分析儀可以對合金進行辨別。
無論您選擇哪款分析儀，您都可以放心使用，因為兩款分析儀都具有使Vanta系列分析儀聲名遠揚的基本特性：檢測迅速，結果可靠，堅固耐用，連通性好，而且其操作便捷性堪比智能手機。
兩款分析儀都具有以下優(yōu)勢特性：
符合IP54評級標準，具有防塵、防潮的特性。
通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時受到損壞，從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求。
Axon技術有助于迅速可靠地完成檢測。
借助奧林巴斯科學云系統(tǒng) ，可以實現(xiàn)云連接和現(xiàn)代化的數(shù)據(jù)共享。
如果您還是不太確定SDD和PIN探測器之間的差別，或者對XRF技術還有其他疑問，請不要遲疑，向我們尋求幫助！
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