目錄:北京精科智創科技發展有限公司>>半導體材料測試儀>>探針臺>> 探針臺配件/ 12C有源探頭探針座/探針
產地類別 | 國產 | 應用領域 | 能源,電子,電氣,綜合 |
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探針臺配件/ 12C有源探頭探針座
|美國12C有源探頭探針座
|產品型號JKZC-DR-200mRF4 或者 JKZC-DL-200mRF4
|產品參數
-進口高剛性絲桿,螺距:0.25mm/rev
-X/Y/Z行程:12.5mm,精度:0.5um
-高剛性結構,彈簧消隙X-Y-Z,穩定無間隙
•吸附形式:N52等級強磁吸附底座,
開關ON/OFF(真空吸附可選)
•帶接地端子,可有效防止靜電對測試的影響
• 12C有源探頭探針座
探針臺配件/GGB 12C有源探頭
|美國GGB 12C有源探頭
|產品型號
GGB 12C
I產品參數
•輸入電容0.lpf;
•輸入電阻1.0兆歐;
•工作電壓范圍-10 to +20V;
•帶寬de to 500 MHz;
• 12C夾具替換用探針(12C-x-xx);
•射頻探針夾具源,可以同時支持兩個探頭使用(PS-2) 。
探針臺配件/開爾文探針座
I產品型號
JKZC-DR-200mRF3 或者 JKZC-DL-200mRF3
|產品參數
•進口高剛性絲桿,螺距:0.25mm/vv
-X/VZ行程:12.5mm,精度:0.5um
•高剛性結構,彈簧消隙X-Y-乙穩定無間隙
-吸附形式:N52等級強磁吸附底座,
開關ON/OFF(M空吸附可選)
•帶接地端子,可有效防止靜電對測試的影響
•開爾文探針夾具安裝在針座上專用
-定制,適配客戶現有機臺
•帶2個三軸母轉三軸母轉接頭
-帶2根SSMC轉三軸公線纜
|美國APT開爾文探針
APT開爾文探針適用于四線法測試,以減小線阻和接觸電阻對測試的影響,保證小電阻的測試準確性。另外 高頻測試,比如150M左右的高頻測試,也可以采用這種開爾文探針。
I型號
74CJ-APT-KS/15
• Frequency: > 150 MHz (測試頻率高);
• Capacitanee (Guarded): < 10 fF;
• Impedanee: 50 Ohm ;
Power HanJKZC-DLing: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C ;