CTM-1000電運輸性質測試系統可以進行霍爾效應、R-H 特性、R-T 特性和 I-V 特性的測量， 可得出參數：方塊電阻、電阻率、霍爾系數、霍爾遷移率、載流子濃度和導電類型，可繪制以上參數隨溫度或磁場的變化曲線，以及 I-V 特性——不同磁場和不同溫度下的 I-V 特性曲線，R-H 特性——固定溫度，電阻隨著磁場變化的特性曲線，R-T 特性——固定磁場，電阻隨著溫度變化的特性曲線。
一、電輸運性質測量系統主要特點:
電輸運測試系統可測試材料:
一、半導體材料：
二、 Si、Ge、GaAs、GaN、AlGaAs、CdTe、HgCdTe、CdTe、ZnO、SiC、GeSi、InP、MCT等，以及弱磁半導體和稀磁半導體的薄膜及塊材；
三、 鐵氧體材料；
四、 低阻抗材料：金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR材料等。
二、電輸運性質測量系統主要特點:
1）標準系統使用插入式樣品夾具，樣品安裝方便；
2）基本配置一次最多可以加裝四個樣品， 并同時可以對兩個樣品進行測試；
3）標準系統隨機配送一個探針樣品卡；
4）標準系統可以進行不同磁場下的霍爾效應、I-V特性的測量；
5）電阻測量范圍寬：0.1mΩ—50GΩ（高阻系統），測量的不確定度為2%；
6）測試過程和計算過程由軟件自動執行，節省了大量的時間；
7）軟件可以顯示測量結果和測量曲線；
8）系統磁場采用閉環控制，可以提供高穩定性的磁場， 同時解決了磁鐵剩磁問題，實現真正的零磁場；
9）選擇變溫選件，可以進行不同溫度下的霍爾效應測量和I-V特性測量。
二、主要技術參數：
一、物理學參數：
1.遷移率：1~1×106cm2/vs
2.載流子濃度：6×1012 ~ 6×1023cm-3
3.霍爾系數：±1×10-5 ~±1×106cm3/C
4.電阻率：5×10-9 ~ 5×102Ω·cm
二、電學參數
1.電阻：0.1mΩ ~ 10MΩ
2.電流源：±50pA~±1A(±1.05A@±21V, ±105mA@±210V)
3.電壓源：±5μV~±200V(±21V@±1.05A, ±210V@±105mA)
4.電流測量：±10pA~±1.05A（10pA 為最小分辨率）
5.電壓測量：±1nV~±100V（1nV 為最小分辨率）
三、液氮恒溫器
1.溫度范圍：80-500K；
2.控溫精度：±0.1K；
3.配合霍爾系統可進行低溫霍爾測試；
4.配合控溫儀和軟件使用需具備線性掃溫功能；
四、控溫儀
1.一路控溫，控溫精度±0.1K；
2.一路加熱，最大加熱功率50w；
3.三檔加熱輸出，PID控溫；
4.可遠程控制，帶Labview驅動及溫度控制軟件；
5.與液氮恒溫器配套使用；
四、機械泵
1.配套機械泵，抽速4L/s；
2.配備波紋管、卡箍等所需真空附件；
與液氮恒溫器配套使用。
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