組件衰減率指組件初始功率和組件當(dāng)前大輸出功率的差值和組件初始功率的比值,計(jì)算衰減率的關(guān)鍵就在組件初始功率和組件當(dāng)前大輸出功率這兩個(gè)參數(shù)的測(cè)量。
計(jì)算公式為:衰減率=組件初始功率/(組件初始功率-組件當(dāng)前大輸出功率)*100%
組件初始功率
是組件出廠測(cè)試得到的大輸出功率,是組件工廠實(shí)驗(yàn)室太陽(yáng)光模擬器測(cè)試得到。影響組件出廠測(cè)試的主要因素:1)環(huán)境溫度:由空調(diào)控制在25±2℃;2)測(cè)試設(shè)備:太陽(yáng)模擬器等級(jí)要求為AA*;3)校準(zhǔn)及標(biāo)準(zhǔn)組件:利用經(jīng)標(biāo)定的標(biāo)準(zhǔn)組件對(duì)太陽(yáng)模擬器進(jìn)行校準(zhǔn),從而對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行修正。
組件當(dāng)前大輸出功率
指組件在運(yùn)行一段時(shí)間后測(cè)得的大輸出功率。通常應(yīng)排除如灰塵遮擋、組件缺陷等影響因素,測(cè)試組件本身的大輸出功率。在戶外測(cè)試組件大輸出功率,主要影響因素有以下幾點(diǎn):
1)測(cè)試輻照度:對(duì)于線性器件應(yīng)在不低于800W/m2 的輻照度下進(jìn)行測(cè)試;
2)測(cè)試溫度:對(duì)于一般背板結(jié)構(gòu)單玻組件,由背板溫度反映電池結(jié)溫;
3)太陽(yáng)光譜:不同地區(qū)和環(huán)境會(huì)有不同的太陽(yáng)光譜,測(cè)量時(shí)應(yīng)與 AM 1.5 的光譜值進(jìn)行修正;
4)組件入射角度:不同光照角度影響組件的發(fā)電性能,測(cè)量時(shí)應(yīng)考慮入射角對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;
5)測(cè)試設(shè)備:手持式戶外測(cè)試設(shè)備,需與輻照測(cè)試和溫度測(cè)試設(shè)備共同使用;
6)參考器件:通常為封裝良好的 WPVS;
7)測(cè)試結(jié)果修正:根據(jù) IEC60891 標(biāo)準(zhǔn)將戶外的輻照度和溫度修正至 STC條件下的結(jié)果。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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